我們知道硅酸根分析儀的檢測(cè)原理是比色法，那么影響硅酸根分析儀的精密度原因其實(shí)就是以下兩方面：一是由分析方法決定的，二是由儀器本身引起的,。前者引起的誤差稱為方法誤差,，后者稱為儀器誤差,。

1,、方法誤差

（1）溶液濃度的影響 被測(cè)物的濃度與吸光度的關(guān)系通常只在低濃度時(shí)與比耳定律相符,，測(cè)高濃度溶液時(shí),，濃度與吸光度之間的關(guān)系便偏離比耳定律,，使測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確。

（2）操作條件的影響 在顯色反應(yīng)過(guò)程中,，顯色劑用量,、溶液PH值、溫度和顯色時(shí)間對(duì)溶液顏色的深淺或光的吸收都有一定影響,。因此測(cè)定時(shí)須嚴(yán)格控制操作條件,，特別是要保證標(biāo)準(zhǔn)試樣與被測(cè)樣品操作條件一致。才能提高測(cè)量準(zhǔn)確度,。

（3）干擾物質(zhì)的影響 干擾物本身的顏色,，干擾物與顯色劑生成有色物質(zhì),，或者干擾物與金屬離子、顯色劑生成穩(wěn)定的無(wú)色物質(zhì),，都會(huì)對(duì)溶液的顏色或顯色過(guò)程帶來(lái)影響,，影響分析精度。一般可用加掩蔽劑或?qū)⒏蓴_物從溶液中分離出去的方法予以消除,。

2,、儀器誤差

（1）光源的不穩(wěn)定 光源不穩(wěn)定主要由光源的電壓波動(dòng)引起的。為了減少電源電壓的波動(dòng),，儀器中設(shè)有穩(wěn)壓電源,。有的儀器設(shè)計(jì)成雙光路系統(tǒng)，以部分地補(bǔ)償光源不穩(wěn)給測(cè)量帶來(lái)的影響,。

（2）光的單色性影響 在光電比色計(jì)和分光光度計(jì)中,，為提高儀器的靈敏度和分析準(zhǔn)確度，都采用被測(cè)物最大吸收的單色光作為光源,。光的單色性較好,，分析精度越高。在光電比色計(jì)中,，用濾光片得到單色光,，其單色性較分光光度計(jì)中用棱鏡或光柵分成的單色光的單色性差。這樣,，在分析中易受其它干擾物的影響,，所以分光光度計(jì)的分析準(zhǔn)確度較光電比色計(jì)高。在分光光度計(jì)中,，光的單色性還與光路上的狹縫寬度有關(guān),，狹縫越寬，光的單色性越差,，但狹縫過(guò)窄,，光又太弱，不能滿足測(cè)量要求,。因此分光光度計(jì)要在滿足光強(qiáng)度的條件下,，盡量減小狹縫的寬度。

（3）光電元件的光電轉(zhuǎn)換特性的影響 在一定條件下,，光電元件（光電池,、光電管、光電倍增管等）具有一定的光電轉(zhuǎn)換特性,，且在一定范圍內(nèi)保持線性關(guān)系,。但是由于元件老化或因受強(qiáng)光照射而產(chǎn)生疲勞現(xiàn)象等原因，會(huì)導(dǎo)致光電轉(zhuǎn)換關(guān)系變化，給測(cè)量造成誤差,。因此老化的光電元件應(yīng)及時(shí)更換,，使用中應(yīng)防止強(qiáng)光照射光電元件，被強(qiáng)光照射過(guò)的光電元件,，應(yīng)將其置于暗處,，讓其消除疲勞，然后才能重新使用,。光電池的光電轉(zhuǎn)換特性還與所帶負(fù)載電阻的大小有關(guān),，當(dāng)負(fù)載超過(guò)一定值時(shí)，其線性關(guān)系變差,，所以使用中要注意負(fù)載電阻的匹配。

（4）比色皿的影響 同組比色皿的材質(zhì),、厚度,、長(zhǎng)度應(yīng)相同，否則也會(huì)給測(cè)量帶來(lái)誤差,。在使用中不要將不同儀器的比色皿混用,。儀器在紫外區(qū)工作時(shí)，要用石英比色皿,。制作比色皿的材料要求對(duì)化學(xué)試劑高度穩(wěn)定,。