MP工具箱 | Zetasizer測試結果質量判別

來源：馬爾文帕納科 2024年11月12日 13:43

在上一篇“MP工具箱”文章中,，我們介紹了馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer的粒徑測試報告中的的參數(shù)都代表了哪些含義，那么如何判斷納米粒度儀測試結果的質量呢？本文將就此問題給出解答。

在判別Zetasizer納米粒度電位儀的測試結果前,，我們要確保所測試的樣品濃度合適。對于大多數(shù)剛性納米粒子來說,，在合適的濃度范圍內(nèi),，粒徑大小是不隨濃度變化的。通常適合測試的樣品為半透明或接近透明狀態(tài),。還可以通過對count rate（測試光強）和 attenuator （衰減器編號）等參數(shù)來考察樣品濃度是否合適,。

正常的樣品濃度，光強會在適合范圍內(nèi),；如果衰減器編號過低或者過高,，樣品的濃度就可能過高或者過低，導致影響測試準確性,。如果濃度合適，光強均在100-500kcps 之間,，Attenuator 會在5-9 之間,，＞9 樣品較稀，＜5 樣品較濃,。

相關方程顯示了粒子散射光波動的信息,，相當于測試原始信號。如下列例圖,，樣品本身的粒徑大小及分布等信息,，可以從相關方程得到,，尤其要關注以下四點信息：

Correlation Functions----相關方程

截距——信噪比

一般截距在0.85-0.95 之間，過高＞1 可能體系中存在較多的大顆粒信號,，數(shù)量波動較大,；過低可能是顆粒較小且濃度較?。蝗绻挥?.00+可能體系有熒光,。

時間依賴性——顆粒大小

如果時間依賴性長,，說明顆粒較大，反之,，顆粒較小。

斜率——樣品分布寬度

斜率較大說明樣品分布較窄，反之,，則較寬,。如果有兩個斜率,，通常樣品雙峰分布。

基線——大顆?；蚧覊m影響

如果基線不平，則說明體系中有很大的粒子,、灰塵,、締合物等；如果基線光滑且歸零,，說明體系無大顆粒,、灰塵等。大顆粒會影響數(shù)據(jù)的質量,。

相關產(chǎn)品

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