單雙可控硅測試儀標(biāo)準(zhǔn)

來源：北京中慧天誠科技有限公司 2024年11月01日 13:27

本測試儀能測試或判斷封裝的可控硅和雙向可控硅的斷態(tài)漏電流、反向漏電流,、門,，觸發(fā)電流、門,，觸發(fā)電壓,、陰，門,，漏電流,、通態(tài)壓降,、通態(tài)平均電流、維持電流等參數(shù),。
本測試儀具有人工測試和接分選機自動測試等測試方式,。人工測試時，與測試盒相連,，在測試狀態(tài)下,，插入器件后，就開始測試,，由人工根據(jù)顯示的分檔數(shù)進(jìn)行分選,；自動測試時，與分選機相連,，由分選機輸出的“開始測試信號”控制,，對器件進(jìn)行測試，并把分檔結(jié)果送至分選機,。
本測試儀內(nèi)部預(yù)置可修改的方案,，開機即可進(jìn)行測試。用戶也能夠瀏覽并打印測試結(jié)果,。本測試儀適合于生產(chǎn)廠家對封裝的可控硅和雙向可控硅進(jìn)行批量測試,，也適合于應(yīng)用廠家的篩選測試。
指標(biāo)
測試分辨率
漏電流：0.1uA
觸發(fā)電流：0.1uA
觸發(fā)電壓：0.01V
通態(tài)平均電流：1mA
維持電流： 0.1mA
%項測試時間
測試斷態(tài)漏電流：≤20mS
測試反向漏電流：≤30mS
測試觸發(fā)電流：≤30mS
測試觸發(fā)電壓：≤20mS
測試陰,，門,，漏電流：≤30mS
測試通態(tài)壓降：≤30mS
測試通態(tài)平均電流：≤50mS
測試維持電流：≤50mS

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