德國(guó)菲希爾FISCHER產(chǎn)品介紹及選型指南 

        德國(guó)FISCHER的產(chǎn)品主要都產(chǎn)自于內(nèi)部生產(chǎn)線，我們相信只有這樣才能生產(chǎn)出滿足客戶期望的優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品。FISCHER擁有現(xiàn)代化的高科技生產(chǎn)設(shè)備，即使是最小的細(xì)節(jié)都會(huì)受到密切的注意，以此保證了產(chǎn)品始終如一的超高品質(zhì),。

       從1953年起，F(xiàn)ISCHER就致力于在鍍層厚度、材料分析,、納米壓痕和材料測(cè)試領(lǐng)域研究及開發(fā)不斷創(chuàng)新、的通用測(cè)試技術(shù),。時(shí)至今日,，F(xiàn)ISCHER儀器以其測(cè)量準(zhǔn)確,、精度高、穩(wěn)定性好等特點(diǎn)為全球用戶推崇和使用,。

FISCHER儀器可以滿足不同行業(yè)中大多數(shù)的測(cè)量和分析需求,。為了取得測(cè)量準(zhǔn)確度和精確性，在面對(duì)不同的測(cè)量需求時(shí)應(yīng)選用相對(duì)應(yīng)的測(cè)量方法：無(wú)論是磁感應(yīng)法,、電渦流法,、庫(kù)侖法、納米壓痕法還是X射線熒光法,，F(xiàn)ISCHER總能為您提供最合適的測(cè)試技術(shù),。

       德國(guó)菲希爾FISCHER涂鍍層厚度測(cè)量和材料分析

小巧、便攜,、耐用：FISCHER公司推出的MP0和MP0R系列無(wú)損測(cè)厚儀可以快速,、精確地測(cè)量涂鍍層的厚度，滿足客戶對(duì)于FISCHER一貫的精度等級(jí)的期待,。它裝有兩塊背光式LCD顯示屏和高耐磨探頭,，再配合其輕巧的外形，是您現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量的選擇,。樣品的幾何特性和磁導(dǎo)率對(duì)測(cè)量的影響非常小,。另外，儀器還采用了的非磁性基材電導(dǎo)率補(bǔ)償技術(shù),，即使是面對(duì)超薄的鍍層,，無(wú)論樣品表面光滑還是粗糙，它都能精確地測(cè)量,。儀器采用磁感應(yīng)法(PERMASCOPE儀器只能在鐵磁性基材上使用),；電渦流法(ISOSCOPE可以在非鐵磁性材料上使用)以及集成兩種方法于一體的兩用法(DUALSCOPE)：DUALSCOPE儀器可以自動(dòng)識(shí)別鋁基材和鐵基材并選擇相應(yīng)的方法進(jìn)行測(cè)量。

DUALSCOPE MP0 帶有一個(gè)集成探頭,，適用于測(cè)量幾乎所有金屬基材上的涂鍍層厚度,。

DUALSCOPE MP0R 和 MP0R-FP 帶有一個(gè)集成探頭或一個(gè)延長(zhǎng)型探頭，適用于測(cè)量幾乎所有金屬基材上的涂鍍層厚度,。

       DMP10/20/30/40系列是適用于許多行業(yè),，堅(jiān)固又時(shí)尚的手持式測(cè)量設(shè)備，幾乎能夠滿足任何測(cè)量要求,。得益于可更換的探頭,，使它們?cè)跓o(wú)損涂層厚度測(cè)量方面非常靈活，是質(zhì)量控制的理想選擇,。儀器的模塊化設(shè)計(jì)能夠針對(duì)相應(yīng)的測(cè)量任務(wù)組成適合的測(cè)量系統(tǒng),。除了配備不同的儀器外，還提供多種高精度探頭選擇,。此外,，每臺(tái)DMP都配備了直觀的Tactile Suite軟件,，可實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單的數(shù)據(jù)傳輸、廣泛的評(píng)估選項(xiàng)和方便的數(shù)據(jù)導(dǎo)出,。所有DMP儀器都具有堅(jiān)固的全鋁制外殼,，大猩猩玻璃顯示屏，IP64防護(hù)等級(jí),，通過(guò)燈光和聲音進(jìn)行實(shí)時(shí)反饋以進(jìn)行上下限監(jiān)控,，通過(guò)USB-C進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸，以及可更換和快速充電的電池,。

您可以從以下型號(hào)中進(jìn)行選擇：

- DELTASCOPE DMP10 和 DMP30 使用磁感應(yīng)法,，適用于測(cè)量鐵基體上的非磁性涂層厚度。

- ISOSCOPE DMP10 和 DMP30 使用渦流法,，適用于測(cè)量非鐵磁金屬基材上的非導(dǎo)電涂層厚度,。

- DUALSCOPE DMP20 和 DMP40 可使用磁感應(yīng)法或渦流法，適用于測(cè)量幾乎所有金屬基材上的涂層厚度,。

DUALSCOPE FMP100 是一款功能強(qiáng)大,、界面友好的涂鍍層測(cè)厚儀，可以滿足眾多不同的測(cè)量需求,。它集成了磁感應(yīng)法和電渦流法于一體并可裝配各種不同的高精度探頭,，即使在不斷變化的測(cè)量條件下，它都能很好的完成各種測(cè)量任務(wù),。它采用的Windows™ CE操作系統(tǒng),，擁有圖形用戶界面和高分辨率的觸摸顯示屏，并配備了可以儲(chǔ)存幾千個(gè)測(cè)量程式的存儲(chǔ)空間和眾多的統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能,，使其成為專業(yè)涂鍍層測(cè)試領(lǐng)域的解決方案。無(wú)論是用于汽車業(yè),、電鍍業(yè),、陽(yáng)極氧化應(yīng)用、防腐層耐用性測(cè)試還是精細(xì)涂層領(lǐng)域,，在所有情況下,，這款儀器一定會(huì)為您提供 高的準(zhǔn)確度和精確性。DUALSCOPE H FMP150 進(jìn)一步配備了第三種測(cè)量原理,，即磁性法,。它除了采用磁感應(yīng)法和電渦流法測(cè)量涂鍍層厚度外，還可以測(cè)量非磁性金屬底材上鎳鍍層的厚度,。使用可選配的檢測(cè)計(jì)劃軟件FISCHER DataCenter 

IP,，使我們?cè)陔娔X上就能建立單獨(dú)的檢測(cè)計(jì)劃并傳輸?shù)綔y(cè)量?jī)x器上。操作人員就能根據(jù)儀器上所顯示的圖片,、草圖,、技術(shù)圖紙以及檢測(cè)計(jì)劃的流程一步步地進(jìn)行測(cè)量,。一旦數(shù)據(jù)采集的步驟完成，測(cè)量數(shù)據(jù)就會(huì)被傳回電腦進(jìn)行整理和計(jì)算,，從而為儀器的下一次測(cè)量做好準(zhǔn)備,。這樣，原本設(shè)計(jì)緊湊,、使用方便的FMP100和FMP150型測(cè)厚儀就可變身為功能強(qiáng)大的多功能數(shù)據(jù)終端了,。

FERITSCOPE DMP30鐵素體檢測(cè)儀在奧氏體鋼或雙相鋼必須承受高溫、侵蝕性物質(zhì)和高壓的外部環(huán)境時(shí),，鐵素體含量起著至關(guān)重要的作用,。尤其是需要在化工廠、能源設(shè)施和加工工廠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量時(shí),，F(xiàn)ISCHER手持設(shè)備的優(yōu)勢(shì)變得非常明顯,。FERITSCOPE DMP30提供了一系列可供選擇的探頭，即使是一些通常難以觸及的區(qū)域,，您也可以使用這些特制的探頭可靠地確定鐵素體含量,。

SIGMASCOPE SMP350電導(dǎo)率測(cè)試儀一款采用渦流法測(cè)量非鐵金屬或非磁性金屬如鋁，銅和不銹鋼等的電導(dǎo)率的儀器,。此外,，基于測(cè)量電導(dǎo)率，還可得出關(guān)于硬度和熱處理的材

料強(qiáng)度方面的結(jié)論,。也可以確定熱損傷和材料疲勞,。

PHASCOPE PMP10涂鍍層測(cè)厚儀主要用于在電鍍和PCB行業(yè)中對(duì)各種基材上的金屬鍍層的厚度進(jìn)行質(zhì)量控制。無(wú)論樣品表面是否平滑,，PMP10都可以精確測(cè)量鐵基材上的鍍鎳層,、鍍銅層和鍍鋅層的厚度；它還能對(duì)印制電路板上的銅層厚度,，甚至是孔內(nèi)銅層的厚度進(jìn)行測(cè)量,。

PMP10 Duplex型儀器是專為汽車行業(yè)測(cè)量雙鍍層而開發(fā)的(例如：油漆/Zn/Fe)：通過(guò)一次測(cè)量就能同時(shí)獲得和顯示兩層涂鍍層各自的厚度。它還可以測(cè)量鋁材上油漆層的厚度,。

COULOSCOPE CMS2型儀器可以快速,、精確地測(cè)量任何基材上幾乎所有金屬鍍層的厚度，甚至是多鍍層的厚度,。它的測(cè)量是一個(gè)通過(guò)庫(kù)侖法進(jìn)行反電鍍的過(guò)程,。儀器采用了菜單式界面、操作簡(jiǎn)便,，是對(duì)電鍍產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控和來(lái)料檢驗(yàn)的理想選擇,。

FISCHERSCOPE MMS PC2帶內(nèi)置Windows™ CE操作系統(tǒng)和網(wǎng)絡(luò)互聯(lián)功能的臺(tái)式多功能測(cè)量系統(tǒng)，尤其適合于無(wú)損,，高精度的鍍層厚度測(cè)量及材料測(cè)試,。操作MMS PC2可以使用大尺寸且高分辨率的彩

色觸摸屏,，或是鍵盤和鼠標(biāo)。帶有LAN和USB接口,，可集成于自動(dòng)生產(chǎn)線中,。此外，可以同時(shí)使用最多8個(gè)探頭進(jìn)行測(cè)量,。MMS PC2的模塊化設(shè)計(jì),，允許對(duì)儀器按客戶的要求進(jìn)行配備，并可以在需要的時(shí)候配備其它的模塊和探頭進(jìn)行升級(jí)改進(jìn),。根據(jù)需求可以在儀器上采用不同的測(cè)量方法,，如電渦流法、磁性法,、磁感應(yīng)法或電阻法等,。能測(cè)量金屬上幾乎所有材料的鍍層厚度，以及非導(dǎo)電材料上的金屬鍍層厚

度,。它還可以用來(lái)測(cè)定非鐵磁性金屬的電導(dǎo)率和測(cè)量奧氏體或雙相鋼材中的鐵素體含量,。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN界面友好的XAN型儀器十分適用于生產(chǎn)業(yè)務(wù)和研發(fā)領(lǐng)域中的材料分析測(cè)試。

FISCHERSCOPE X-RAY XUL 和 XULM XUL系列型號(hào)的X射線熒光光譜儀,，設(shè)計(jì)緊湊,，用于測(cè)量鍍層厚度和分析材料。X射線源和探測(cè)器位于測(cè)量室的下方,，樣品可以直接放置在測(cè)量臺(tái)上輕松定位,。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 和 XDLMXDL系列儀器配備了比例計(jì)數(shù)管探測(cè)器，適用于質(zhì)量控制,，來(lái)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)監(jiān)控,。由于它測(cè)量空間大，故而適合測(cè)量有復(fù)雜幾何形狀的大尺寸樣品,。XDL系列不僅可以配備簡(jiǎn)單樣品平臺(tái),，還可以配置不同的XY工作臺(tái)和Z軸。因而可用于自動(dòng)化批量測(cè)試,。

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL配備硅PIN探測(cè)器及微距焦X射線管的XDAL型儀器即使在含量很小和鍍層很薄的情況下,，也可以提供可靠的分析結(jié)果,。它適用于來(lái)料檢驗(yàn),，生產(chǎn)監(jiān)控及研發(fā)領(lǐng)域。XDAL配備有可切換準(zhǔn)直器,、基本慮片及快速可編程XY平臺(tái),。因而可以在運(yùn)行過(guò)程中自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)測(cè)量位置，自動(dòng)完成不同批次的測(cè)量,。

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDDXDV-SDD型儀器是為了滿足鍍層厚度測(cè)量和材料分析領(lǐng)域的 要求而專門設(shè)計(jì)的,。在配備了新的硅漂移探測(cè)器后,，特別適合于無(wú)損測(cè)量低至納米級(jí)厚度的鍍層以及精確分析微量元素。它是檢測(cè)線路板和電子元器件中RoHS和WEEE指令符合性的理想選擇,，還適合于測(cè)量復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng),，以及電子半導(dǎo)體工業(yè)中的電鍍或蒸鍍鍍層?；瘜W(xué)鎳中的磷含量也可以由XDV-SDD精確測(cè)量,。