氧化鋁是一種常見的無機氧化物,其廣泛應(yīng)用于陶瓷,、醫(yī)藥、電子,、機械等行業(yè)。氧化鋁的純度不同,應(yīng)用的領(lǐng)域也有所差異,,例如:99氧化鋁瓷材料用于制作高溫坩堝,、耐火爐管及特殊耐磨材料,如陶瓷軸承,、陶瓷密封件及水閥片等,;95氧化鋁瓷主要用作耐腐蝕、耐磨部件,。物質(zhì)的組成不同其表面帶電也具有極大差別,,包括電性和帶電量,而表面帶電情況將會影響材料的性能和應(yīng)用領(lǐng)域,。在這個應(yīng)用中,,我們考察了不同純度的氧化鋁材料在不同pH值環(huán)境中的Zeta電位。
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原理和設(shè)備
采用丹東百特儀器有限公司的BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀以及BAT-1自動滴定儀,。
電泳光散射技術(shù)ELS是利用激光照射在樣品溶液或者懸浮液上,,檢測前向角度的散射光信號。在樣品兩端施加一個電場,,樣品中的帶電顆粒在電場力的驅(qū)動下進行電泳運動,。由于顆粒的電泳運動,樣品的散射光的頻率會產(chǎn)生一個頻移,,即多普勒頻移,。利用數(shù)學方法處理散射光信號,得到散射光的頻率移動,,進而得到顆粒的電泳運動速度,,即電泳遷移率μ。通過Herry方程,,我們把顆粒的電泳遷移率和其Zeta電位ζ聯(lián)系起來:
其中ε為介電常數(shù),,??為溶劑粘度,f(κα)為Henry函數(shù),,κ為德拜半徑倒數(shù),,α代表粒徑,κα代表了雙電層厚度和顆粒半徑的比值,。
我們采用丹東百特儀器有限公司的BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀進行測試,。儀器使用波長671 nm,功率50 mW激光器作為光源,,設(shè)置在12度角的APD檢測器進行散射光信號采集,。采用PALS相位分析光散射技術(shù),可以有效檢測低電泳遷移率樣品的Zeta電位信息,。
樣品制備和測試條件
分別將純度為95%和99%的氧化鋁,,按照0.2mg/ml配比分散在蒸餾水中,,使用50W超聲波將其分散3min后得到兩份平行樣品。通過BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀和BAT-1自動滴定儀相配合,,以樣品分散后的pH環(huán)境為起點,,使用HCl滴定液向低pH范圍滴定,使用NaOH滴定液向高pH范圍滴定,,測試pH間隔為1,,檢測pH值設(shè)定在2-12之間Zeta電位的變化。
測試結(jié)果和討論
圖1.95%氧化鋁和99%氧化鋁Zeta電位pH滴定結(jié)果
物質(zhì)的Zeta電位由其表面的化學組成和周圍的液體環(huán)境決定,,雖然這兩個樣品的主要成分都是氧化鋁,,但是其純度有所差別,95%的氧化鋁含有更多其他組分化學物質(zhì),。通過圖1對于兩個不同純度的氧化鋁樣品的Zeta電位pH滴定結(jié)果可以看到,,使用同樣的蒸餾水進行超聲分散,95%氧化鋁樣品的初始pH值在10左右,,懸浮體系呈現(xiàn)弱堿性,,滴定曲線的等電點為7.86;而99%氧化鋁的分散后懸浮體系為pH值在7附近的近中性體系,,等電點為5.18,。由此可以得出對于同一物質(zhì)而言,其純度不同,,對其Zeta電位的影響是巨大的,。
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