鍍層厚度分析儀簡(jiǎn)介

鍍層厚度分析儀又叫涂鍍層測(cè)量?jī)x,、電鍍層測(cè)試儀,、防腐層檢測(cè)儀,、涂鍍層測(cè)試儀,、涂鍍層測(cè)量?jī)x,、油漆測(cè)厚儀價(jià)格,、油漆層測(cè)厚儀、油漆膜厚儀,、鋼結(jié)構(gòu)油漆層測(cè)厚儀,、鋼板油漆測(cè)厚儀、鋼管油漆測(cè)厚儀,、油漆防腐層測(cè)厚儀,、油罐防腐層測(cè)厚儀可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體（如鋼、鐵,、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁,、鉻、銅,、琺瑯,、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅,、鋁,、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：琺瑯、橡膠,、油漆,、塑料等）。涂鍍層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小,、可靠性高,、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn),，是控制和產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測(cè)儀器,，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè),、化工業(yè),、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。

鍍層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè),、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié),，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化,，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中,，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。

鍍層厚度分析儀的測(cè)量方法主要有：楔切法,，光截法,，電解法，厚度差測(cè)量法,，稱重法,，X射線熒光法，β射線反向散射法,，電容法,、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中前五種是有損檢測(cè),，測(cè)量手段繁瑣,，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn),。

X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量,，測(cè)量范圍較小，X射線法可測(cè)極薄鍍層,、雙鍍層,、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量,。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用,。

隨著技術(shù)的日益,，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后，X射線鍍層厚度分析儀向微型,、智能,、多功能、高精度,、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步,。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%,，有了大幅度的提高,。它適用范圍廣,，量程寬,、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用廣泛的測(cè)厚儀器,。

工業(yè)X射線鍍層厚度分析儀以其快速,、無(wú)損、現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量等優(yōu)點(diǎn),，已在冶金,、建材、地質(zhì),、環(huán)保,、商檢、考古,、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域得到迅速推廣和應(yīng)用,。近幾年來(lái)X射線熒光儀已在工業(yè)鍍層及涂層厚度測(cè)量中應(yīng)用越來(lái)越廣泛。*,，產(chǎn)品和金屬元件表面鍍層或防腐層厚度是與產(chǎn)品質(zhì)量與性能相關(guān)的重要指標(biāo),。實(shí)驗(yàn)表明使用同位素X射線熒光分析方法，能夠滿足工業(yè)鍍層和涂層厚度的分析要求,，并且具有無(wú)損,、在線、簡(jiǎn)便快速,、可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)控制等特點(diǎn),。

X射線熒光鍍層厚度分析儀基本原理

X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線，它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息,，通過(guò)對(duì)X射線熒光的分析確定被測(cè)樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀,。由原子物理學(xué)的知識(shí)，對(duì)每一種化學(xué)元素的原子來(lái)說(shuō),，都有其特定的能級(jí)結(jié)構(gòu),，其核外電子都以其*的能量在各自的固定軌道上運(yùn)行,。內(nèi)層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，成為自由電子,，這時(shí)原子被激發(fā)了,，處于激發(fā)態(tài)。此時(shí),，其他的外層電子便會(huì)這一空位,，即所謂的躍遷，同時(shí)以發(fā)出X射線的形式放出能量,。

X射線熒光鍍層厚度分析儀基本原理

由于每一種元素的原子能級(jí)結(jié)構(gòu)都是特定的,，它被激發(fā)后躍遷時(shí)放出的X射線的能量也是特定的，稱之為特征X射線,。通過(guò)測(cè)定特征X射線的能量,，便可以確定相應(yīng)元素的存在，而特征X射線的強(qiáng)弱（或者說(shuō)X射線光子的多少）則代表該元素的含量,。

鍍層厚度分析儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類型:

1.磁性測(cè)厚法

適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量,。導(dǎo)磁材料一般為：鋼、鐵,、銀,、鎳。此種方法測(cè)量精度高,。

2.渦流測(cè)厚法

適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量,。此種方法較磁性測(cè)厚法精度低。

3.超聲波測(cè)厚法

目前國(guó)內(nèi)還沒(méi)有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的,，國(guó)外個(gè)別廠家有這樣的儀器,，適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合。但一般價(jià)格昂貴,，測(cè)量精度也不高,。

4.電解測(cè)厚法

此方法有別于以上三種，不屬于無(wú)損檢測(cè),，需要破壞涂鍍層,。一般精度也不高。測(cè)量起來(lái)較其他幾種麻煩,。

5.放射測(cè)厚法

此種儀器價(jià)格昂貴,，適用于一些特殊場(chǎng)合。

常規(guī)鍍層厚度分析儀的原理

對(duì)材料表面保護(hù),、裝飾形成的覆蓋層,，如涂層、鍍層,、敷層,、貼層,、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)國(guó)家和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層（coating）,。覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè),、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段,。為使產(chǎn)品化,，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)覆層厚度有了明確的要求,。

覆層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法,，光截法，電解法,，厚度差測(cè)量法,，稱重法，X射線熒光法,，β射線反向散射法,，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等,。

這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣,，速度慢,，多適用于抽樣檢驗(yàn)。X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量,，但裝置復(fù)雜昂貴,，測(cè)量范圍較小。因有放射源,，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范,。X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層,、合金鍍層,。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用,。

隨著技術(shù)的日益,，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型,、智能,、多功能、高精度,、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步,。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米,，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高,。它適用范圍廣,，量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉,，是工業(yè)和科研使用廣泛的測(cè)厚儀器,。采用無(wú)損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測(cè)速度快,，能使的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行,。

鍍層厚度分析儀測(cè)量原理與儀器

一． 磁吸力測(cè)量原理鍍層厚度分析儀

磁鐵（測(cè)頭）與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系，這個(gè)距離就是覆層的厚度,。利用這一原理制成測(cè)厚儀,，只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大，就可進(jìn)行測(cè)量,。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,，所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用廣。測(cè)厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼,，接力簧,，標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測(cè)物吸合后,，將測(cè)量簧在其后逐漸拉長(zhǎng),，拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸力,，磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度,。新型的產(chǎn)品可以自動(dòng)完成這一記錄過(guò)程。不同的型號(hào)有不同的量程與適用場(chǎng)合,。這種儀器的特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便,、堅(jiān)固耐用、不用電源,，測(cè)量前無(wú)須校準(zhǔn),，價(jià)格也較低，很適合車(chē)間做現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制,。

二． 磁感應(yīng)測(cè)量原理鍍層厚度分析儀

采用磁感應(yīng)原理時(shí),，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度,。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,，來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚,，則磁阻越大,，磁通越小,。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度,。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上,。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）,。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí),，儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,，測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小,，儀器將該信號(hào)放大后來(lái)指示覆層厚度。近年來(lái)的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻,、鎖相,、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來(lái)調(diào)制測(cè)量信號(hào),。還采用設(shè)計(jì)的集成電路,，引入微機(jī)，使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí)）?，F(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀,，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%,，量程達(dá)10mm,。磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來(lái)測(cè)量鋼鐵表面的油漆層，瓷,、搪瓷防護(hù)層，塑料,、橡膠覆層,，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層,。

三． 電渦流測(cè)量原理鍍層厚度分析儀

高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng),，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流,。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近,，則渦流愈大，反射阻抗也愈大,。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小,，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測(cè)頭專門(mén)測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,，所以通常稱之為非磁性測(cè)頭,。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯,，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較,，主要區(qū)別是測(cè)頭不同,，信號(hào)的頻率不同，信號(hào)的大小,、標(biāo)度關(guān)系不同,。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um,，允許誤差1%,，量程10mm的高水平。

采用電渦流原理的測(cè)厚儀,，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量,，如航天航空器表面、車(chē)輛,、家電,、鋁合金門(mén)窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜,。覆層材料有一定的導(dǎo)電性,，通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）,。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體,，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適。

鍍層厚度分析儀使用注意事項(xiàng)

1．儀器供電電壓必須與儀器銘牌上的電壓一致,。儀器必須使用三線插頭連到一個(gè)已接地的插座上,。

2．鍍層厚度分析儀為精密儀器，建議配備高精度的穩(wěn)壓電源,。計(jì)算機(jī)和儀器應(yīng)配備不間斷電源（UPS）,。

3．鍍層厚度分析儀應(yīng)特別注意與存在電磁的場(chǎng)合隔離開(kāi)來(lái)。

4．儀器適合在10~40℃（50~104℉）的環(huán)境溫度下操作使用,，在0~50℃（32~122℉）的溫度下存放,。操作和存放的允許濕度范圍在0~65%之間（非冷凝）。在操作過(guò)程中,，環(huán)境溫度和濕度應(yīng)保持恒定,。

5．儀器曝曬在陽(yáng)光下時(shí)溫度極易超過(guò)50℃。所以請(qǐng)不要在這樣的環(huán)境下操作和存放儀器,，以避免高溫對(duì)儀器造成損害,。

6．為避免短路，嚴(yán)禁儀器與液體直接接觸。如果液體進(jìn)入儀器,，請(qǐng)立刻關(guān)閉儀器并在重新使用前請(qǐng)技術(shù)人員檢查儀器,。

7．鍍層厚度分析儀不能用于酸性環(huán)境和易爆場(chǎng)合。

8．不要弄臟和刮擦元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片,，否則會(huì)造成讀數(shù)錯(cuò)誤,。

9．不要用任何機(jī)械或化學(xué)的方法清除元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片上的污物。如果必要的話,，可以用一塊不起毛的布輕輕擦除臟物,。