GB/T6672 薄膜測(cè)厚儀 薄膜厚度測(cè)量?jī)x
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Labthink蘭光CHY-C2 薄膜測(cè)厚儀 薄膜厚度測(cè)量?jī)x滿足多項(xiàng)國(guó)家和標(biāo)準(zhǔn):ISO 4593,、 ISO 534,、 ISO 3034、 GB/T 6672,、 GB/T 451.3,、 GB/T 6547、 ASTM D645,、 ASTM D374、 ASTM D1777,、 TAPPI T411,、 DIN 53105、 DIN 53353,、 JIS K6250,、 JIS K6328、 JIS K6783,、 JIS Z1702,、 BS 3983、BS 4817 ,,適用于塑料薄膜,、薄片、隔膜,、紙張,、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量,。
CHY-C2 薄膜測(cè)厚儀 薄膜厚度測(cè)量?jī)x特 征
微電腦控制,、液晶顯示
菜單式界面,、PVC操作面板
接觸式測(cè)量
測(cè)頭自動(dòng)升降
手動(dòng)、自動(dòng)雙重測(cè)量模式
數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示,、自動(dòng)統(tǒng)計(jì),、打印
顯示zui大值、zui小值,、平均值和統(tǒng)計(jì)偏差
標(biāo)準(zhǔn)接觸面積,、測(cè)量壓力(非標(biāo)可選)
標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定
微型打印機(jī)
RS232接口
網(wǎng)絡(luò)傳輸接口支持局域網(wǎng)數(shù)據(jù)集中管理與互聯(lián)網(wǎng)信息傳輸
CHY-C2 薄膜測(cè)厚儀 薄膜厚度測(cè)量?jī)x技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量范圍:0~2mm(常規(guī))
0~6mm;12mm(可選)
分 辨 率:0.1μm
測(cè)量速度:10次/min(可調(diào))
測(cè)量壓力:17.5±1kPa(薄膜),;50±1kPa(紙張)
接觸面積:50mm2(薄膜),;200mm2(紙張)
注:薄膜、紙張任選一種,;非標(biāo)可定制
電 源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:300 mm (L)×275 mm (B)×300 mm (H)
凈 重:33kg
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以上CHY-C2薄膜測(cè)厚儀 薄膜厚度測(cè)量?jī)x信息由Labthink濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司發(fā)布,,:
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【濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司】介紹
濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司專業(yè)致力于檢測(cè)理論研究與實(shí)驗(yàn)室建設(shè),服務(wù)于紡織,、包裝,、印刷、膠粘劑及車用非金屬行業(yè)的品質(zhì)控制事業(yè),,擁有的高分子聚合物阻隔性實(shí)驗(yàn)室,,已為世界各地 4000 多家客戶提供多層次專業(yè)化服務(wù)及數(shù)萬套檢測(cè)設(shè)備。憑借專業(yè)精深的研究理念及創(chuàng)新的人才精英團(tuán)隊(duì),, Labthink 蘭光以完備的研究設(shè)施,、完整的核心技術(shù)、完善的解決方案著稱包裝測(cè)試行業(yè),。
Labthink蘭光產(chǎn)品如下:透氧儀,、透濕儀、薄膜拉力機(jī),、頂空分析儀,、透氣性測(cè)試儀、密封試驗(yàn)儀,、摩擦系數(shù)儀,、熱縮試驗(yàn)儀、熱封試驗(yàn)儀,、落鏢沖擊試驗(yàn)儀,、擺錘沖擊試驗(yàn)儀、墨層結(jié)合牢度試驗(yàn)機(jī),、薄膜測(cè)厚儀,、持粘性測(cè)試儀、紙箱抗壓機(jī),、電子剝離試驗(yàn)機(jī),、初粘性測(cè)試儀,、撕裂度儀等。
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