ICP-OES/ICP-MS 正極材料分析中的應(yīng)用
現(xiàn)階段的眾多鋰電池企業(yè),,均采用ICP-OES作為主量元素配比以及雜質(zhì)元素濃度的測定工具。使用ICP-OES測試主量與雜質(zhì)元素時,,可能會遇到的一些問題如:
1.主量元素濃度高,,儀器動態(tài)范圍是否夠?qū)?
2.測定主含量元素的同時,能否測定微量雜質(zhì)元素,?
3.測定主含量元素儀器是否穩(wěn)定?
4.測定雜質(zhì)儀器是否有足夠的靈敏度?
等等
得益于珀金埃爾默公司Avio系列ICP-OES上的設(shè)計,,配備平板等離子體技術(shù)、雙向觀測模式,、豐富的元素譜線庫,、光譜干擾校正技術(shù)(MSF,多譜擬合技術(shù))能夠有效解決上述問題,。
伴隨著產(chǎn)業(yè)的發(fā)展以及工藝的提升,,對雜質(zhì)的管控越發(fā)嚴格,雜質(zhì)濃度限值一直在往下調(diào),。ICP-OES由于其儀器原理的限制,,在測定低濃度雜質(zhì)元素時遇到瓶頸。Cr,、Cu,、Fe、Zn,、Pb這些元素尤其明顯,。據(jù)調(diào)研,,部分廠家該5個元素濃度控制在1ppm以下(部分廠家Fe含量在10 ppm以內(nèi)),在常規(guī)100倍固液稀釋比前處理后,,樣品溶液中該元素濃度在10 ppb以下,,因此使用ICP-OES進行檢測遇到了極大的挑戰(zhàn),尤其在譜線干擾嚴重的情況下,。而ICP-MS由于其靈敏度更高,,檢測下限更低,是一個非常好的檢測手段,。
使用ICP-MS測試正極材料中雜質(zhì)元素的挑戰(zhàn)包括:
1. 雜質(zhì)元素會受到主量元素質(zhì)譜干擾,;
2. 對不同類型的質(zhì)譜干擾,需要不同的干擾校正模式,。
通過對多個廠家的鋰電正極材料做測試,,運用空白實驗、平行樣,、加標回收等質(zhì)控手段進行測試,,驗證了珀金埃爾默NexION系列ICP-MS,標配AMS進樣系統(tǒng),,配合大錐孔三錐設(shè)計,,四極桿離子偏轉(zhuǎn)器,可以獲得優(yōu)異的基體耐受性,、儀器穩(wěn)定性,,以及更低的記憶效應(yīng)。
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