一,、定義：

        光器件溫度循環(huán)試驗，也稱為熱循環(huán)試驗或高低溫循環(huán)試驗,，是將試驗樣品暴露于預設(shè)的高低溫交替的試驗環(huán)境中所進行的可靠性試驗,。

        溫循作為自然環(huán)境的模擬，可以考核產(chǎn)品在不同環(huán)境條件下的適應能力,，常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗,、元器件的篩選試驗。

二,、目的

        溫循是驗證模擬溫度交替變化環(huán)境對電子元器件的機械性能及電氣性能影響的試驗,，考核電子元器件在短期內(nèi)反復承受溫度變化的能力及不同結(jié)構(gòu)材料之間的熱匹配性能，暴露元器件潛在的材料缺陷和制造質(zhì)量缺陷,，消除早期失效,，提高產(chǎn)品可靠性。

三,、指標

        技術(shù)指標包括：高溫溫度,、高溫保持時間、下降速率,、低溫溫度,、低溫保持時間、上升速率,、循環(huán)次數(shù)

        試驗的嚴苛程度取決于高/低溫,、濕度和曝露持續(xù)時間。

四,、原理

        電子元器件在實際使用中可能會遇到溫差變化比較大的環(huán)境條件,。溫循試驗通過設(shè)定的試驗應力曲線，使元器件在短期內(nèi)反復承受高溫,、低溫變化應力以及溫度交替突變影響,，從而暴露出元器件因材料熱脹冷縮性能不匹配、內(nèi)引線和管芯涂料溫度系數(shù)不匹配,、芯片裂紋,、接觸不良和制造工藝等原因而造成的失效并加以剔除。

五,、設(shè)備

        溫循一般采用高低溫交變試驗箱或高低溫交變濕熱試驗箱進行試驗,，

        普遍的高低溫試驗箱一般指的是恒定高低溫試驗箱,，其控制方式為：設(shè)定一個目標溫度，試驗箱具有自動恒溫到目標溫度的能力,；

        高低溫交變試驗箱具有設(shè)定一條或者多條高低溫變化,、循環(huán)的程序,，試驗箱有能力根據(jù)預置的曲線完成試驗過程,，并且可以在升溫、降溫速率能力的范圍內(nèi),，精確控制升溫,、降溫的速率。