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鍍層厚度測量已成為加工工業(yè),、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié),，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段,。為使產(chǎn)品化,，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求,。
隨著技術(shù)的日益,，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型,、智能,、多功能、高精度,、實用化的方向進(jìn)了一步,。測量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%,，有了大幅度的提高,。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉,，是工業(yè)和科研使用較廣泛的測厚儀器,。
工作原理
鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來,。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,，所以不會對樣品造成損壞,。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成,。
臺式的熒光X射線膜厚測試儀,，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光,，,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值,。
應(yīng)用
X射線的能量穿過金屬鍍層的同時，金屬元素其電子會反射其穩(wěn)定的能量波譜,。通過這樣的原理,，我們設(shè)計出：膜厚測試儀也可稱為膜厚測量儀，又稱金屬涂鍍層厚度測量儀,，其不同之處為其即是薄膜厚度測試儀,，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應(yīng)*環(huán)保工藝準(zhǔn)則,，故市場上較普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測厚儀,。
X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波?？梢暪饩€的波長為0.000001 m （1μm）左右,。
對某物質(zhì)進(jìn)行X射線照射時,可以觀測到主要以下3種X射線。
（1） 螢光X射線
（2） 散亂X射線
（3） 透過X射線
產(chǎn)品是利用螢光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理,。和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造),。而透過X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場的貨物檢查,。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類
相關(guān)產(chǎn)品
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