產(chǎn)品關(guān)鍵詞：電致發(fā)光,、IVL、電致發(fā)光量子效率,、量子效率,、亮度,、前向亮度、角度分辨,、器件壽命,、外量子效率、發(fā)光量子產(chǎn)率測量系統(tǒng),、EQE,、JV、IV,、發(fā)光量子產(chǎn)率測量系統(tǒng) ,、CIE、色溫,、光譜功率分布 λ,、輻射通量、光通量,、相關(guān)色溫（CCT）,、顯色指數(shù)（CRI）、電功率密度,、積分球

電致發(fā)光量子效率測量儀HiYield-EL是東譜科技 HiOE 綜合發(fā)光特性測量平臺中的重要成員,，用于對電致發(fā)光樣品的發(fā)光特性進行精確測量,。HiYield 系統(tǒng)能夠以精準的檢測精度對電致發(fā)光器件進行縱深測量，得到全面的測量的電致發(fā)光效率參數(shù)（量子效率EQE等）以及相關(guān)的電學(xué),、輻射度學(xué),、光度學(xué)、色度學(xué)等參數(shù),；同時該系統(tǒng)集成了穩(wěn)定性測試模塊,，可以對器件的老化過程進行測試，且同時得到器件老化過程的全面信息,，即涵蓋了上述發(fā)光效率,、電學(xué)、輻射度學(xué),、光度學(xué),、色度學(xué)等全面參數(shù)（通常的老化測試儀，僅對電流,、電壓和相對亮度進行測試）,，典型的包括電致發(fā)光效率/量子效率EQE、壽命測試,、CIE,、CRI、CCT,、光譜響應(yīng),、光譜功率分布、IV,、JV,、總光譜輻射通量、輻射通量,、光通量,、光效、光譜強度,、峰值波長,、FHWM等，廣泛應(yīng)用于各種類型的電致發(fā)光器件測量,。

HiYield-EL能夠以精準的檢測精度對電致發(fā)光器件進行縱深測量,，得到全面的法測量的電致發(fā)光效率參數(shù)（外量子效率等）以及相關(guān)的電學(xué)、輻射度學(xué),、光度學(xué),、色度學(xué)等參數(shù)；集成了穩(wěn)定性測試模塊，可以對器件的老化過程進行測試,，且同時得到器件老化過程的全面信息,，即涵蓋了上述發(fā)光效率、電學(xué),、輻射度學(xué),、光度學(xué)、色度學(xué)等全面參數(shù)（通常的老化測試儀,，僅對電流,、電壓和相對亮度進行測試）；由軟件控制測試過程,，操作便捷,，圖表和數(shù)據(jù)實時顯示,；可快速,、可靠對樣品的測試過程進行追蹤；具有實時測量,、預(yù)測量,、定制測量、掃描測量,、時間依賴測量等豐富的測量模式,。

HiYield-EL測試功能包括效率參數(shù)：發(fā)光效率/外量子效率EQE、電流效率,、功率效率等,；電學(xué)參數(shù)：電壓（V）、電流（I）,、電流密度（J）,、電功率（W）、電功率密度等,；輻射度學(xué)：光譜功率分布,、輻射通量、光通量,、光視效能,、峰值波長、主波長等,； 色度學(xué)：CIE 色度坐標(biāo),、相關(guān)色溫（CCT）、MK-1（mred）,、顯色指數(shù)（CRI）,、RGB 顏色值等；穩(wěn)定性測試。

包含測量模式：電壓掃描（含分段掃描,、循環(huán)掃描等）,、電流掃描（含分段掃描、循環(huán)掃描等）,、恒壓單點測量,；、恒流單點測量,、穩(wěn)定性測量：不同老化時間下測量,、電致發(fā)光、IVL,、電致發(fā)光量子效率,、量子效率、亮度,、前向亮度,、角度分辨、器件壽命,、發(fā)光量子產(chǎn)率測量系統(tǒng),、JV、IV,、發(fā)光量子產(chǎn)率測量系統(tǒng)等,。