偏光顯微鏡觀察．分為反射光及透射光觀察兩部分,。

1,、透射光觀察

透射光觀察是指對洞穴石灰華薄片,，在偏光顯微鏡透射光下進行的觀察,。即巖石學巾的巖石薄片鑒定,，常在單偏光與正交偏光之間反復進行,。透射光觀察分為已石化及末石化兩部分進行,。由于佩微攝影的照片數(shù)量很多,，有的現(xiàn)象十分相似，這里僅選擇少數(shù)具特征性的照片進行描述,。

（1）已石化標本薄片

1）層狀石灰華

標本92—12—61,。采集地：貴州織金洞，劍門關,。形象名：鈣華板,。

照片號：2125（團版Xm）。鏡下特征：單偏光（—）,；視域倍數(shù)25M10（物鏡x目鏡）,。

照片視域為鈣華板底部（右側(cè)白色部分）與上覆沉積物的接觸部位,，顯示出三種不同結構。右側(cè)為白色結構致密部分,，其巾可見沿鈣華板平面延伸方向的棕色紋層,。白色致密部分偏左，為棕色結構半致密部分,。其巾可見數(shù)量不多的7L洞,，并見有斜交的紋理，呈現(xiàn)出該部分為許多棕色絲狀物交織而成,。緊接其左側(cè)約占視域2／3的是結構疏松層,，其中交錯存在的棕色絲狀物清晰可見，并留下許多折線幾何形孔洞,。整個視域給人以一種絲狀物從白色結構致密層,，棕色絲狀體向上強烈“生長”的感覺。

照片號：2126（圖版x,。鏡下特征：正交偏光,；視域倍數(shù)2．5M10（物鏡x目鏡）。

偏光顯微鏡為上一視域的正交偏光,。右側(cè)白色致密結構層中,，呈現(xiàn)出垂直紋層的，具不同消光位的桿狀方解石晶體,。反映沉積物石化,、重結晶作用較為強烈，已形成垂直并突破紋層的柱狀方解石晶體,。半致密結構層中,，孔洞已被只“白”干涉色的方解石晶粒所充填。反映出沉積物已經(jīng)協(xié)了一定的石化階段,，但重結品作用內(nèi)不明顯,，仍留下許多棕色絲狀物的殘余結

構。疏松結構層中,，交錯存在的絲狀物及其形成的折線幾何形孔洞仍然清晰可見。但絲狀

物的絲體外緣,，“粘結”了許多具“局級白”干涉色的力解石細粒,，部分絲狀物已被細粒方解石所覆蓋，形成了泥品方解石薄膜G反映出棕色絲狀物具食,，“粘結”或“捕獲”微細粒狀方解石的功能,，當細粒方解石顆粒聚集后，可形成泥晶方解石的薄膜“泥晶套”,。

偏光顯微鏡對層狀石灰華的觀察表明：⑦沉積物可分為疏松,、半致密及致密三種結構層：⑨疏松結構層,，由棕色絲狀物組成，其間構成折線狀幾何形孔洞,。致密結構層呈灰白色,，可見有平行狀紋層。半致密結構層介于兩者之間,；③正交偏光下可見棕色絲狀物上“粘結”或“捕獲”許多方解石細小品粒,，密集處己形成方解石薄膜包裹的絲狀體；④正交偏光下,，可見具不同消光位的方解石品粒,，穿越棕色紋理的現(xiàn)象；⑤具致密結構層的沉積物,，其石化,、重結晶現(xiàn)象明19高于疏松、偏光顯微鏡半致密結構的沉積物,。http://www.cnnoptics.com/