SYSTESTER思克THI-1801測厚儀,不僅用于電池隔膜,、薄膜、電容薄膜材料等軟質(zhì)材料厚度測量,，還用于太陽能電池硅片,、紙張,、膠帶、箔片,、硅片等各種材料的厚度測量,，是一款超高測試誤差的全自動(dòng)測厚儀,，測厚儀被廣泛應(yīng)用于質(zhì)檢機(jī)構(gòu)、薄膜生產(chǎn)廠家,、光伏廠等單位,。

THI-1801測厚儀原理：

采用機(jī)械接觸式測試原理，截取一定尺寸試樣,，測厚儀測量頭自動(dòng)降落于試樣之上,，依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測試出試樣的厚度值，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求,，有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性,。

厚度是電池隔膜隔膜最基本的特性之一，其要求的厚度均勻性與所有薄膜生產(chǎn)公司如出一轍,，可謂永恒追求的質(zhì)量指標(biāo),，會(huì)直接影響隔膜卷的外觀質(zhì)量以及內(nèi)在性能，因此是生產(chǎn)過程中需嚴(yán)加控制的質(zhì)量指標(biāo)之一,。隔膜厚度的均勻性包括縱向厚度的均勻和橫向厚度的均勻,，但比較而言，橫向厚度均勻性更為重要,，一般必須控制在1um以內(nèi),。

THI-1801測厚儀

THI-1801測厚儀操作步驟：

1.試樣條件調(diào)節(jié)，狀態(tài)調(diào)節(jié)時(shí)間和環(huán)境應(yīng)按被測材料的規(guī)范,。

2.試樣和厚度測量儀的各測量面無油污,、灰塵等污染。

3.測量前應(yīng)檢查薄片測厚儀零點(diǎn),，在每組試樣測量后應(yīng)重新檢查其零點(diǎn),。

4.測量時(shí)應(yīng)平緩放下測頭，避免試樣變形,。

5.按等分試樣長度的方法以確定測量厚度的位置點(diǎn),，方法如下：

A.試樣長度在≤300mm,測10點(diǎn)

B.試樣長度在300mm~1500mm,測20點(diǎn)

C. 試樣長度在≥1500mm,至少測30點(diǎn)

對未裁邊的樣品，應(yīng)在距邊50mm開始測量,。