(1) 激光法：優(yōu)點：操作簡便,，測試速度快，測試范圍大,，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可實現(xiàn)在線測量和干法測量,。缺點：分辨力較低,。

(2) 動態(tài)圖像法：優(yōu)點：操作簡便、拍攝與分析速度快,、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,，可測量大顆粒，可進行圓形度,、長徑比等形貌分析,。缺點：不能分析細顆粒（如<2μm），儀器成本較高,。

(3) 靜態(tài)圖像法：優(yōu)點：成本較低,、圖像清晰、可進行圓形度,、長徑比等形貌分析。 缺點：操作復(fù)雜,，分析速度慢,，無法分析細顆粒（如<2μm）。

(4) 電鏡法：優(yōu)點：能分析納米顆粒和超細顆粒粒度和形貌,，圖像清晰,，表面紋理可見，分辨率高，是表征納米顆粒粒度的標(biāo)準(zhǔn)方法,。缺點：代表性差,、儀器價格昂貴。

(5) 光阻法：優(yōu)點：測試速度快,，可測液體或氣體中低濃度顆粒數(shù),，分辨力高，樣品用量少,。缺點：進樣系統(tǒng)比較復(fù)雜,，不適用粒徑<1μm 的樣品。

(6) 電阻法：優(yōu)點：操作簡便,，可測顆粒數(shù),，等效概念明確，速度快,，準(zhǔn)確性好,。缺點：不適合測量超細樣品和寬分布樣品，維護時更換小孔管比較麻煩,。

(7) 沉降法：優(yōu)點：操作簡便,，儀器可以連續(xù)運行，價格較低,，測試范圍較大,。缺點：測試時間較長，操作復(fù)雜,。

(8) 篩分法：優(yōu)點：簡單,、直觀、設(shè)備造價低,，常用于大于38μm（400目）的樣品,。缺點：不能用于超細樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形 影響較大,。

(9) 動態(tài)光散射法：優(yōu)點：測試范圍寬（從納米到亞微米）,、測試速度快，重復(fù)性好,，操作簡便,。缺點：測試寬分布的納米材料誤差及較大。

(10) 超聲波法：優(yōu)點：可對高濃度漿料直接現(xiàn)場測量,，無需稀釋樣品,。 缺點：分辨率較低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較差,，結(jié)果受環(huán)境因素影響較大,。