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XRD的基本原理：
X射線與物質作用時,，就其能量轉換而言，一般分為三部分,，其中一部分被散射,，一部分被吸收，一部分通過物質繼續(xù)沿原來方向傳播,。散射的X射線與入射X射線波長相同時對晶體將產生衍射現象,，即晶面間距產生的光程差等于波長的整數倍時。將每種晶體物質的衍射花樣與標準衍射花樣對比,，利用三強峰原則,，即可鑒定出樣品中存在的物相。
X-射線的產生是由在X-射線管（真空度10-4Pa）中有30-60KV的加速電子流,，沖擊金屬（如純Cu或Mo）靶面產生。常用的射線是MoKα射線,，包括Kα1和Kα2兩種射線（強度2:1）,，波長為71.073pm。
應用：主要用于物相分析,、晶體結構分析,、織構分析，晶胞參數,、結晶度,、晶型含量等的測定
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