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實(shí)驗(yàn)分享‖利用序列實(shí)驗(yàn)方法研究銀銅合金的電沉積

來源:江蘇東華分析儀器有限公司   2024年02月22日 08:52  

序列實(shí)驗(yàn)

序列實(shí)驗(yàn)是通過合理的設(shè)計(jì),,將多個(gè)基本的電化學(xué)方法優(yōu)化組合,,來實(shí)現(xiàn)更高要求的電化學(xué)實(shí)驗(yàn)技術(shù)。通過一系列有序的實(shí)驗(yàn)步驟,,逐步調(diào)整一個(gè)或多個(gè)參數(shù)或條件,,對(duì)實(shí)驗(yàn)體系的行為和性質(zhì)進(jìn)行系統(tǒng)研究。DH7000系列產(chǎn)品具有好的靈活性,,能夠?qū)崿F(xiàn)各種電化學(xué)方法的自由組合,,為序列實(shí)驗(yàn)提供了有力支持。

在本實(shí)驗(yàn)實(shí)例中,,我們首先利用恒電流電沉積(CP)技術(shù)將金屬離子沉積到基底上,。隨后,通過正向線性掃描(LSV)技術(shù),,使沉積的金屬離子發(fā)生氧化并溶出,。通過巧妙地將這兩種方法結(jié)合在一起,可以通過調(diào)整沉積過程中的電流密度和沉積時(shí)間,,觀察線掃溶出曲線峰的變化,。這為我們提供了一種有效手段,用于判斷能否通過控制沉積時(shí)間來調(diào)控沉積厚度以及沉積金屬中的比例關(guān)系,。

電鍍或電沉積銀銅合金在科學(xué)研究和實(shí)際應(yīng)用中都具有顯著的意義和價(jià)值,。在應(yīng)用方面,銀銅合金所具備的優(yōu)異導(dǎo)電性,、抗腐蝕性和美觀性使其在電子通信,、電力傳輸、珠寶藝術(shù)和復(fù)合材料制備等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景,。銅銀兩種金屬具有良好的互溶性,,通過電沉積形成的合金如果實(shí)現(xiàn)完全互溶,,可能會(huì)形成類似高熵合金的結(jié)構(gòu)。這種分相現(xiàn)象對(duì)沉積層的性質(zhì)具有重要影響,,進(jìn)一步提升了銀銅合金的科學(xué)意義和應(yīng)用價(jià)值,。

具體實(shí)驗(yàn)中,本研究針對(duì)銀和銅的沉積行為進(jìn)行了研究,。通過調(diào)整電流密度和沉積時(shí)間的變化,,我們觀察了這兩種金屬的沉積行為。通過分析線性掃描溶解曲線峰的變化,,我們獲得了關(guān)于沉積層厚度和銀銅比例關(guān)系的重要信息,。這些數(shù)據(jù)不僅有助于我們深入理解雙金屬沉積過程,還可為相關(guān)領(lǐng)域的研究和應(yīng)用提供有價(jià)值的參考,。

儀器與參數(shù)設(shè)置

循環(huán)伏安(CV)曲線掃描范圍在0.8~-1.15V,,掃速為10和20mV/s;恒電流電沉積電流密度分別為0.2,、0.5和0.8A/dm2(ASD),,控制沉積不同的時(shí)間。線掃(LSV)溶出的掃描范圍:-0.4~0.8V,,掃速10mV/s,;實(shí)驗(yàn)體系為三電極體系,選用直徑3.0mm的玻碳電極為工作電極,,飽和甘汞電極為參比電極,,螺旋狀鉑絲為對(duì)電極。試驗(yàn)前先用~5mm的Al2O3拋光粉對(duì)玻碳電極進(jìn)行拋光處理,,用去離子水沖洗干凈備用,。工作液為含有1.0g/L的Ag+和5.0g/L的Cu2+的ZHL無(wú)氰鍍液,pH約為10.0,。溫度約為25±1℃,。儀器型號(hào):DH7001A電化學(xué)工作站。下圖為該序列實(shí)驗(yàn)方法的參數(shù)設(shè)置界面,,包括第一步恒電流電沉積(CP)參數(shù)設(shè)置和第二步LSV方法溶出的設(shè)置,。

 

實(shí)驗(yàn)結(jié)果

為了說明含有雙金屬離子循環(huán)伏安曲線峰的一些特征以及改變金屬離子的濃度對(duì)沉積的影響,我們分別研究了不同的Ag+和Cu2+離子的含量,,在10mV/s掃速的CV曲線如圖1A所示,。從圖中可以看出,僅含Ag+的鍍液中,,在-1.0V附近出現(xiàn)還原峰,,在隨后的正電勢(shì)方向掃描時(shí)電流會(huì)在一段電位區(qū)間(例如-0.3~-0.7)大于負(fù)向掃描時(shí)的電流,形成了一個(gè)“8”字形的電流回滯。這是由于在負(fù)向掃描時(shí),,銀單質(zhì)是沉積在惰性的玻碳電極表面,,活化能更高;而正向掃描時(shí)是沉積在銀表面,,活化能已大為降低,。沉積層的氧化峰電位在0.0V附近,峰形尖銳,。

另外通過固定某一金屬含量不變,,改變另一種金屬離子的含量來考察濃度對(duì)曲線的影響,如圖1B,、C所示,。在對(duì)比銅和銀的沉積行為時(shí),可以發(fā)現(xiàn)了一些顯著的差異,。例如銅的還原峰電流比銀的要大,。這主要是由于銅離子經(jīng)歷的是兩電子還原過程,而銀離子則是單電子反應(yīng),。此外,銅離子的含量在溶液中比銀離子更高,,這也是造成電流差異的另一個(gè)原因,。另一個(gè)值得注意的現(xiàn)象是,銅的還原過程中并沒有出現(xiàn)像銀離子還原時(shí)那樣的電流回滯,。這一現(xiàn)象推測(cè)是由于銅與鍍液中絡(luò)合劑的結(jié)合能力相對(duì)較弱,,其在玻碳電極和銅表面沉積的活化能差異不顯著。此外,,還觀察到銅的氧化峰電位更正,,大約在0.43V左右,而且峰形更寬,。

在含有銀和銅雙金屬離子體系的CV曲線中可以發(fā)現(xiàn),,負(fù)掃時(shí)的還原電流的增加得更快,峰電位也向正電勢(shì)移動(dòng),。此外,,在回掃過程中同樣存在電流的回滯現(xiàn)象。這些現(xiàn)象表明,,銀和銅在沉積過程中可能存在著相互的促進(jìn)作用,。

圖1

(a)不同組分在10mV/s的CV曲線疊加;(b)只改變銀離子濃度的曲線變化,;(c)只改變銅離子濃度的曲線變化

在改變銀離子相對(duì)含量的研究中(圖1B),,以Ag+:Cu2+=1:5g/L的鍍液作為基準(zhǔn),通過單一調(diào)整銀離子的濃度,,即分別設(shè)定為1.0,、2.0,、3.0和4.0g/L,同時(shí)保持銅離子含量恒定,,記錄20mV/s掃描速率下的CV行為,。結(jié)果顯示,隨著銀離子濃度的增加,,CV曲線的還原峰電流也逐漸增加,,同時(shí)伴隨著峰電位的輕微正移。這一現(xiàn)象表明,,銀離子含量的增加加快了沉積速度,。然而,銀沉積層的氧化峰位變化不明顯,,但是峰電流呈現(xiàn)出與銀離子含量的線性趨勢(shì),。沉積銀層的氧化峰面積與銀離子含量的關(guān)系如插圖所示。在所考察的濃度區(qū)間,,兩者具有較好的線性關(guān)系,。

在銅離子含量的研究中,同樣以Ag+:Cu2+=1:5g/L的鍍液為基準(zhǔn),,通過單一調(diào)整銅離子的濃度,,即分別設(shè)定為5.0、10.0,、15.0和20.0g/L,,同時(shí)保持銀離子含量恒定,在20mV/s的掃描速率下進(jìn)行實(shí)驗(yàn),,并記錄了相應(yīng)的CV曲線,。結(jié)果表明,隨著鍍液中銅離子濃度的增加,,還原峰電流逐漸增強(qiáng),,同時(shí)明顯伴隨著峰電位的正向移動(dòng)。此外,,相應(yīng)氧化峰的電流也呈現(xiàn)出增長(zhǎng)的趨勢(shì),,其峰面積與離子含量也有較好的線性關(guān)系,見插圖所示,。這些結(jié)果提供了雙組分金屬離子的濃度與電沉積物質(zhì)的量之間的定量關(guān)系,,為后續(xù)對(duì)鍍層組分的控制提供參考。

 

圖2

(a),、 (b) ,、(c)為不同電流密度下沉積不同時(shí)間的溶出曲線

(d)、 (e) 、(f)為10mV/s線掃溶出曲線的峰高與T變化曲線


為了了解銀銅合金鍍層的含量,,我們?cè)O(shè)計(jì)了序列實(shí)驗(yàn),。先在恒電流(CP)沉積給定的時(shí)間,獲得一定厚度的鍍層,,而后結(jié)合線性掃描(LSV)方法表征鍍層中不同組分的氧化行為,,并確定其相對(duì)含量。這一過程中,,可以通過調(diào)整電流密度和沉積時(shí)間來控制合金層的沉積總量,,并對(duì)得到的溶出曲線進(jìn)行詳細(xì)分析。

圖2A,、B,、C分別展示了在0.2、0.5和0.8ASD條件下,,不同沉積時(shí)間的線性掃描溶出曲線,。觀察這些曲線可以發(fā)現(xiàn),在低電流密度(如0.2ASD)下,,銀的沉積顯得更為困難,。具體來說,在此條件下,,前20 s內(nèi)均未觀察到銀的溶出峰,,而銅的溶出峰則在沉積數(shù)秒時(shí)便可觀察到。結(jié)合圖1A的CV曲線,,可以推斷銅的沉積電位低于銀,。因此,,在低電流密度下,,達(dá)到銀離子沉積電位所需的時(shí)間更長(zhǎng)。在0.5ASD條件下,,前2.5秒內(nèi)也未出現(xiàn)銀的溶出峰,。

值得注意的是,盡管銀離子的沉積過程需要更長(zhǎng)的活化時(shí)間,,一旦出現(xiàn)初始沉積層,,可在較短時(shí)間達(dá)到可觀的沉積速度,其氧化峰也在較短的時(shí)間內(nèi)可達(dá)到與銅相當(dāng)?shù)母叨?。這表明沉積出的銀更容易被氧化,。圖2D、E和F則進(jìn)一步展示了銀銅合金沉積層溶出峰高度隨沉積時(shí)間的變化趨勢(shì),。仔細(xì)分析這些現(xiàn)象可以進(jìn)一步了解銀銅沉積過程中的催化機(jī)理,,也為理解其結(jié)晶結(jié)構(gòu)提供參考。

總結(jié)

電化學(xué)方法種類繁多,選擇適合特定研究體系的方法至關(guān)重要,。相較于單一實(shí)驗(yàn),,序列實(shí)驗(yàn)在研究中不僅操作更為便捷,而且能夠揭示更多有價(jià)值或難以直接觀測(cè)的信息,。本例利用DH7001A電化學(xué)工作站將恒電流電沉積(CP)與線性掃描伏安法(LSV)相結(jié)合,,探究了雙金屬銀銅離子的共沉積行為。

這種序列方法的運(yùn)用,,能極大地促進(jìn)實(shí)驗(yàn)的深入和對(duì)數(shù)據(jù)的全面獲取,。然而,要想熟練掌握并運(yùn)用電化學(xué)工作站中的序列實(shí)驗(yàn),,研究者不僅需要具備堅(jiān)實(shí)的電化學(xué)理論基礎(chǔ),,還需要對(duì)電化學(xué)方法的應(yīng)用有深刻的理解。此外,,高質(zhì)量的實(shí)驗(yàn)結(jié)果也依賴于電化學(xué)工作站的優(yōu)良性能,。



 

 

 

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