Zeta電位納米粒度儀是用于測試納米粒徑及粒徑分布的全新軟件,，采用動態(tài)光散射技術(shù)及電泳光散射技術(shù)，可以實(shí)時,、準(zhǔn)確地檢測膠體溶液中納米顆粒的粒徑及粒徑分布,，以及Zeta電位等參數(shù),。

　　Zeta電位納米粒度儀的原理主要基于電泳遷移和動態(tài)光散射技術(shù)。以下是該原理的詳細(xì)解釋：

　　1,、電泳遷移：Zeta電位納米粒度儀通過施加一個電場,，使帶電的納米顆粒在電場中發(fā)生定向遷移。這個遷移的速度與顆粒的電荷量,、電場強(qiáng)度以及電介質(zhì)的介電常數(shù)有關(guān),。具體來說，負(fù)電荷的顆粒會向正電極方向遷移,，而正電荷的顆粒會向負(fù)電極方向遷移,。

　　2、動態(tài)光散射：在電場作用下,，運(yùn)動的納米顆粒當(dāng)受到激光照射時,，會產(chǎn)生散射光。由于多普勒效應(yīng),，這個散射光的頻率會發(fā)生變化,。散射光與參考光疊加后，頻率的變化會更加明顯,。通過測量這個頻率變化，可以推算出顆粒的運(yùn)動速度,。

　　3,、Zeta電位的計算：根據(jù)顆粒在電場中的遷移速度和所施加的電場強(qiáng)度，可以計算出顆粒的電動力學(xué)電荷,。進(jìn)一步地,，通過考慮電介質(zhì)的影響，可以推算出顆粒表面的電位,，即Zeta電位,。

　　綜上所述,，Zeta電位納米粒度儀通過結(jié)合電泳遷移和動態(tài)光散射技術(shù)，可以準(zhǔn)確地測量納米顆粒的Zeta電位和粒度分布,。這對于理解納米顆粒的分散穩(wěn)定性,、相互作用以及在各種應(yīng)用中的行為具有重要意義。