Zeta電位納米粒度儀是用于測試納米粒徑及粒徑分布的全新軟件,，采用動態(tài)光散射技術及電泳光散射技術,，可以實時、準確地檢測膠體溶液中納米顆粒的粒徑及粒徑分布,，以及Zeta電位等參數(shù),。

　　Zeta電位納米粒度儀的原理主要基于電泳遷移和動態(tài)光散射技術,。以下是該原理的詳細解釋：

　　1、電泳遷移：Zeta電位納米粒度儀通過施加一個電場,，使帶電的納米顆粒在電場中發(fā)生定向遷移,。這個遷移的速度與顆粒的電荷量、電場強度以及電介質(zhì)的介電常數(shù)有關,。具體來說,，負電荷的顆粒會向正電極方向遷移，而正電荷的顆粒會向負電極方向遷移,。

　　2,、動態(tài)光散射：在電場作用下，運動的納米顆粒當受到激光照射時,，會產(chǎn)生散射光,。由于多普勒效應，這個散射光的頻率會發(fā)生變化,。散射光與參考光疊加后,，頻率的變化會更加明顯。通過測量這個頻率變化,，可以推算出顆粒的運動速度,。

　　3、Zeta電位的計算：根據(jù)顆粒在電場中的遷移速度和所施加的電場強度,，可以計算出顆粒的電動力學電荷,。進一步地，通過考慮電介質(zhì)的影響,，可以推算出顆粒表面的電位,，即Zeta電位。

　　綜上所述,，Zeta電位納米粒度儀通過結(jié)合電泳遷移和動態(tài)光散射技術,，可以準確地測量納米顆粒的Zeta電位和粒度分布。這對于理解納米顆粒的分散穩(wěn)定性,、相互作用以及在各種應用中的行為具有重要意義,。