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直測針
這是簡單的一種測針，采用高球度的工業(yè)紅寶石測球和備選的各種測針桿材料,。
紅寶石是一種極為堅硬的材料，因此測球的磨損甚微,。測球安裝在一系列材料的測針桿上 — 不銹鋼,、碳化鎢、陶瓷及碳纖維材料“Renishaw GF”— 這種簡單的紅寶石球測針適用于大多數(shù)檢測應(yīng)用場合中,。
每個測針都有一個有效工作長度（EWL）,，即測針桿與待測工件不干涉的情況下測球所能探入的深度。
測球尺寸和測針有效工作長度的選擇,，取決于待測工件的尺寸,。但盡量選用大的測球以及短的測針桿可確保測球/桿的尺寸差別大，從而得到大且剛性好的有效工作長度,。選用較大的測球直徑,，還可減小待測工件表面光潔度的影響。用很長的測針/加長桿組合進行測量時,，建議不要選擇標準的機械式觸發(fā)測頭,，因為其剛性低，會因測針的彎曲造成精度喪失,。采用如應(yīng)變片式傳感技術(shù)等其他類型測頭則不致于如此,，因為其觸發(fā)力很小，可使用長測針/加長桿組合而不會產(chǎn)生明顯的精度損失,。
星形測針
這些測針組件為您提供了針對復雜形體和孔的多測尖檢測,。四或五個紅寶石測球系統(tǒng)牢固地安裝在一個不銹鋼星形測針座上。有三種標準規(guī)格 — 作為一種選擇,，您也可用五向的星形測針中心座配用任何Renishaw原產(chǎn)系列測針制作成用戶定制的星形測針,。
星形測針可用于測量各種不同的形體結(jié)構(gòu)。這些測針的使用因為可進行多測尖檢測,，大大減少了將測頭移動到工件的內(nèi)部測量位置如孔的側(cè)面和底部的需要,，從而縮短了檢測周期。采用星形測針時,，假如測針伸出了測頭體直徑之外,，用星形測針還能進行 -Z向（向上）的有效檢測,。星形測針的每個需要以單球形測針一樣的方式標定（有時稱為“檢
定”或“校準”）。星形測針的“跨度”是指兩端測球中心的距離,。
盤形測針
這些測針用于檢測星形測針無法觸及的孔內(nèi)退刀槽和凹槽,。它們是高球度測球的“截面”，有各種直徑和厚度,?？扇较蛐D(zhuǎn)調(diào)整以及可添加中心測針的功能是Renishaw盤形測針系列的特點，這些特點使其特別靈活并易于使用,。
用簡單盤形測針的“球形邊緣”進行檢測與以大直徑測球的外圓或其附近進行檢測同樣有效,。但只有該測球表面的一小部分能夠接觸，因此為確保與待測目標有良好接觸,，較薄的盤形測針需要仔細的角度調(diào)整。
簡易盤形測針僅需要標定一個直徑（通常使用環(huán)規(guī)）,，但于X和Y方向的有效檢測,。在盤形測針上加一個“半球形滾子”即可進行Z軸向檢測，但該“半球形滾子”的中心位置須大于測頭直徑,。“半球形滾子”可用球面或塊規(guī)標定,。將盤形測針沿其中心轉(zhuǎn)動并鎖定，可定位“半球形滾子”使之與實際應(yīng)用位置相適應(yīng),。
盤形測針的中心還帶有螺紋可用于固定中心測針,，增加檢測深孔底部的靈活性（其中部分盤形測針難以觸及）。
測針
一系列測針可用于螺紋牙形,、薄截面材料,、對刀和其他的測量場合。
柱形測針
這種測針用于檢測薄板材料的孔,。它還可檢測各種螺紋部件,、并可定位攻絲孔的中心。測球柱形測針可進行全面標定及X,、Y和Z向檢測,，因此可進行表面檢測。
尖測針和陶瓷空心球形測針
尖測針于螺紋牙型,、特定點及刻劃線（較低精度）的檢測,。采用尖測針，可進行更的標定以及上述要素的精細檢測并可用于檢驗極小的孔的位置,。
陶瓷空心球形測針是檢測X,、Y和Z向深位特性和孔的理想選擇，只需要標定一個球,。該系列有兩種,，直徑為18 mm和33 mm,，分別于TP2/TP20/TP200和TP6測頭。用這種大直徑測球檢測可均化表面粗糙度造成的影響,。
對刀測頭測針
這種測針通常配備一個立方頭并可帶螺紋或配備光軸附件,。測針表面經(jīng)過研磨加工，確保很高的垂直度和平行度,。TS27R加工中心用對刀測頭還可配備碳化鎢盤形測針,。碰撞保護裝置
Renishaw的測針撞擊保護裝置經(jīng)精心設(shè)計，在發(fā)生碰撞時折斷,，保護測頭不被損壞,。
附件和工具
包括測針加長桿、四向或五向測針中心座及測針關(guān)節(jié)在內(nèi)的各種各樣的附件作為Renishaw原產(chǎn)測針的補充,，可實現(xiàn)全面靈活的檢測,。
測針中心座
它們極大地擴展了單個測頭檢測的靈活性。配備多達5個相同螺紋的測針,，該附件使您能根據(jù)自己的具體要求配置測針,。
測針關(guān)節(jié)
測針關(guān)節(jié)可對兩個軸進行全面調(diào)節(jié)，從而使測針達到測量的角度要求,。這種調(diào)節(jié)在測頭不能由測座準確定向或測座的活動受*特別有用,。
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