紙張測厚儀THI-1801適用于塑料薄膜,、薄片,、紙張、箔片,、硅片等各種材料的厚度精確測量,。接觸式測量原理,采用德國測厚傳感器,;嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求,,保證測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。工業(yè)TFT屏,,觸摸屏操作,;零導(dǎo)航深度的扁平化界面 UI,操作更加方便快捷,。手動,、循環(huán)、預(yù)約定時多種測量模式,,測試過程全自動完成,;實驗簡單高效。
紙張測厚儀的工作原理:
機械接觸式測試方法,,是通過位移傳感器測試薄膜材料的厚度,。在測試前,儀器的測量頭落在設(shè)備砧板上,,傳感器讀取測量頭的初始位移值,,測量頭抬起后,將試樣放置在砧板紙上,,測量頭以同樣的壓力落在試樣上,,傳感器讀取測量頭的位移值,兩次位移值之差則為試樣的厚度值,。
紙張測厚儀的技術(shù)指標(biāo):
測試范圍:0~2mm(標(biāo)配) 0~10mm(可選)
分 辨 率:0.1μm
測量速度:1~25次/min(可調(diào))
測 量 頭:薄膜:50mm2,,17.5±1kPa(標(biāo)配)
紙張:200mm2,,50±1kPa(可選)
電 源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)
主機凈重:38kg

GB/T 6672、GB/T 451.3,、GB/T 6547,、ASTM D645、ASTM D374,、ASTM D1777,、TAPPI T411、ISO 4593,、ISO 534,、ISO 3034、DIN 53105,、DIN 53353,、JIS K6250、JIS K6328,、JIS K6783,、JIS Z1702、BS 3983,、BS 4817