主要用途： 儀器是較新型X射線熒光光譜儀，具有重現(xiàn)性好,，測(cè)量速度快,，靈敏度高的特點(diǎn)。能分析F（9）～U（92）之間所有元素,。樣品可以是固體、粉末、熔融片,，液體等，分析對(duì)象適用于煉鋼,、有色金屬,、水泥、陶瓷,、石油,、玻璃等行業(yè)樣品。無(wú)標(biāo)半定量方法可以對(duì)各種形狀樣品定性分析,，并能給出半定量結(jié)果,，結(jié)果準(zhǔn)確度對(duì)某些樣品可以接近定量水平，分析時(shí)間短,。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析,，薄膜分析。 測(cè)量樣品的zui大尺寸要求為直徑51mm,高40mm. 

　　儀器類別： 0303040903 /儀器儀表 /成份分析儀器 /熒光光度計(jì) 

　　指標(biāo)信息： 1.發(fā)射源是Rh靶X光管，zui大電流125mA,，電壓60kV,，zui大功率3kW 2.儀器在真空條件下工作，真空度<13pascals 3.5塊分析晶體,，可以分析元素周期表F～U之間所有元素,，含量范圍是ppm～100% 4.分析軟件是Philips公司（現(xiàn)為PANalytical）版軟件，既可作半定量,，也可定量分析,。精密度：在計(jì)算率N=1483870時(shí)，RSD=0.08% 穩(wěn)定性計(jì)算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相對(duì)誤差為0.03% 
 

　　附件信息： 循環(huán)水致冷單元,，計(jì)算機(jī) P10氣體瓶空氣壓縮機(jī) 

　　分析對(duì)象主要有各種磁性材料（NdFeB,、SmCo合金、FeTbDy）,、鈦鎳記憶合金,、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等,，以及各種形態(tài)樣品的無(wú)標(biāo)半定量分析,，對(duì)于均勻的顆粒度較小的粉末或合金，結(jié)果接近于定量分析的準(zhǔn)確度,。X熒光分析快速,，某些樣品當(dāng)天就可以得到分析結(jié)果。適合課題研究和生產(chǎn)監(jiān)控,。 

　　X射線熒光光譜儀分為波長(zhǎng)色散,、能量色散、非色散X熒光,、全反射X熒光,。

　　波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據(jù)Bragg定律將不同能量的譜線分開(kāi)，然后進(jìn)行測(cè)量,。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發(fā)源,，可分為順序式（或稱單道式或掃描式）、同時(shí)式（或稱多道式）譜儀,、和順序式與同時(shí)式相結(jié)合的譜儀三種類型,。順序式通過(guò)掃描方法逐個(gè)測(cè)量元素，因此測(cè)量速度通常比同時(shí)式慢,，適用于科研及多用途的工作,。同時(shí)式則適用于相對(duì)固定組成，對(duì)測(cè)量速度要求高和批量試樣分析, 順序式與同時(shí)式相結(jié)合的譜儀結(jié)合了兩者的優(yōu)點(diǎn),。 

　　能量色散X射線熒光光譜 

　　能量色散X射線熒光光譜采用脈沖高度分析器將不同能量的脈沖分開(kāi)并測(cè)量,。能量色散X射線熒光光譜儀可分為具有高分辨率的光譜儀,，分辨率較低的便攜式光譜儀，和介于兩者之間的臺(tái)式光譜儀,。高分辨率光譜儀通常采用液氮冷卻的半導(dǎo)體探測(cè)器,，如Si（Li）和高純鍺探測(cè)器等。低分辨便攜式光譜儀常常采用正比計(jì)數(shù)器或閃爍計(jì)數(shù)器為探測(cè)器,，它們不需要液氮冷卻,。近年來(lái)，采用電致冷的半導(dǎo)體探測(cè)器,，高分辨率譜儀已不用液氮冷卻,。同步輻射光激發(fā)X射線熒光光譜、質(zhì)子激發(fā)X射線熒光光譜,、放射性同位素激發(fā)X射線熒光光譜,、全反射X射線熒光光譜、微區(qū)X射線熒光光譜等較多采用的是能量色散方式,。 

　　非色散譜儀

　　非色散譜儀不是采用將不同能量的譜線分辨開(kāi)來(lái),，而是通過(guò)選擇激發(fā)、選擇濾波和選擇探測(cè)等方法使測(cè)量分析線而排除其他能量譜線的干擾,，因此一般只適用于測(cè)量一些簡(jiǎn)單和組成基本固定的樣品,。
 全反射X射線熒光 
如果n1>n2，則介質(zhì)1相對(duì)于介質(zhì)2為光密介質(zhì),，介質(zhì)2相對(duì)于介質(zhì)1為光疏介質(zhì),。對(duì)于X射線，一般固體與空氣相比都是光疏介質(zhì),。所以，如果介質(zhì)1是空氣,，那么α1>α2（圖2.20右圖）,，即折射線會(huì)偏向界面。如果α1足夠小,，并使α2=0,，此時(shí)的掠射角α1稱為臨界角α臨界。當(dāng)α1<α臨界時(shí),，界面就象鏡子一樣將入射線全部反射回介質(zhì)1中,，這就是全反射現(xiàn)象。 
 

　X射線熒光光譜法有如下特點(diǎn)：
 分析的元素范圍廣,，從4Be到92U均可測(cè)定,；熒光X射線譜線簡(jiǎn)單，相互干擾少,，樣品不必分離,，分析方法比較簡(jiǎn)便；

　　分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測(cè)限可達(dá)ppm量級(jí),，輕元素稍差,；
 分析樣品不被破壞，分析快速,，準(zhǔn)確,，便于自動(dòng)化。