在標(biāo)準(zhǔn)的PAUT扇形掃描中,，每個(gè)超聲軸位置（不考慮指示深度）的數(shù)據(jù)將會(huì)合并。其中的數(shù)據(jù)來源于扇形掃描中每個(gè)聲束的最大波幅和每個(gè)掃描位置（橫切片）,，因此潛在的指示將合并,，與每個(gè)聲束的傳播軸垂直。合并B掃描是一個(gè)未校正的視圖,，不涉及任何壓縮,，所以沒有數(shù)據(jù)丟失。

也就是說,，在選擇使用合并B掃描時(shí),，還需要考慮其他因素。當(dāng)焊縫中指示的聲道分布不固定時(shí),，它有出色的檢測(cè)性能,，這一般是自然發(fā)生的。但并不是所有的焊縫和PAUT配置都是一樣的,，在某些情況下,，特別是在扇形掃描覆蓋了大部分焊縫的情況下,，可能會(huì)有焊縫的幾何指示出現(xiàn)在相似的聲程上,。如果不進(jìn)行調(diào)整，這些條件就不是使用合并B掃描的優(yōu)化條件,，但好消息是,，仔細(xì)選擇用于合并的第一和最后一個(gè)聲束,，可以改進(jìn)圖像,，這對(duì)缺陷篩選仍有顯著效果,。

相控陣超聲測(cè)試（PAUT）B掃描基礎(chǔ)知識(shí)

即使是那些熟悉B掃描的人，有時(shí)也會(huì)錯(cuò)誤地將其描述為“側(cè)視圖”,。只有在談?wù)?度檢測(cè)時(shí),，這才是準(zhǔn)確的說法（如用于壁厚測(cè)量）。當(dāng)涉及到角度聲束檢測(cè)時(shí),，這并不真正適用，例如焊接檢測(cè)中是角度聲束檢測(cè),。這是因?yàn)樵诮嵌嚷暿刃螔呙柚?，單個(gè)B掃描實(shí)際上顯示了不同的聲束,，每個(gè)聲束相對(duì)于表面（或垂直于表面的深度軸）以不同角度傳播。

B掃描篩選技術(shù)通常由相控陣（PA）檢測(cè)人員教授并用于焊接檢測(cè)應(yīng)用,。在進(jìn)行扇形掃描時(shí)，依次滾動(dòng)瀏覽B掃描,，就像滾動(dòng)瀏覽S掃描的每個(gè)傾斜聲束實(shí)時(shí)產(chǎn)生的平面圖像,。焊縫檢測(cè)人員在評(píng)估壓痕深度和確定哪些壓痕最深時(shí),，通常會(huì)應(yīng)用B掃描數(shù)據(jù)視圖。

然而,，使用這種技術(shù)識(shí)別和評(píng)估缺陷通常需要集中精力,，以便：

• 識(shí)別幫助您從幾何回波中區(qū)分出可疑缺陷的模式。

• 在不同的B掃描中,，比較可疑缺陷的嚴(yán)重程度和深度,。

合并B掃描有助于減輕所涉及的一些工作，并通過其提供的強(qiáng)大功能簡(jiǎn)化您的焊接檢測(cè)和分析過程,。作為對(duì)標(biāo)準(zhǔn)B掃描篩選技術(shù)的補(bǔ)充,，合并B掃描可以使您對(duì)評(píng)估充滿信心。

以下是它所提供的五大優(yōu)勢(shì)的總結(jié)：

1. 進(jìn)行更容易和更快的篩選

合并B掃描可以為檢測(cè)人員節(jié)省大量的時(shí)間和精力,。由于在焊縫中檢測(cè)到的所有信號(hào)指示都可以顯示在一個(gè)數(shù)據(jù)視圖中,，所以很容易一目了然地發(fā)現(xiàn)可疑的缺陷，并確認(rèn)您沒有誤解或錯(cuò)過任何東西,。

由于所有的數(shù)據(jù)都呈現(xiàn)在一個(gè)視圖中,，所以您可以清楚地從幾何回波和相關(guān)的漂移中區(qū)分出可疑的信號(hào)指示,。

此外，通過全新改進(jìn)布局,，查看合并和未合并的B掃描數(shù)據(jù)更加方便：

• B-S-A單組布局顯示更大的B掃描視圖

• 新的A-B-S多組布局顯示多個(gè)B掃描，無需切換,。組可以單獨(dú)合并或取消合并,，以方便比較和解釋。

  
  

A-B-S多組布局顯示多個(gè)B掃描（合并或不合并）,，無需在顯示圖像之間切換,。此外，每組可以單獨(dú)合并或取消合并,，以方便比較和解釋數(shù)據(jù),。

2.隔離相關(guān)角度以獲得更清晰的圖像

您可以通過仔細(xì)選擇對(duì)分析有幫助的聲束，使合并B掃描圖像更加清晰,。調(diào)整數(shù)據(jù)源參數(shù)中的第一個(gè)和最后一個(gè)聲束可以使可疑的指示從不相關(guān)的回波中更清楚地顯示出來,。

3.驗(yàn)證缺陷篩選評(píng)估的準(zhǔn)確性

OmniScan X3的快速訪問菜單使您能夠在標(biāo)準(zhǔn)B掃描視圖和合并B掃描之間來回切換。只需在B掃描數(shù)據(jù)顯示中按住即可打開菜單,，然后選擇使用主動(dòng)聲束和激活合并B型掃描功能,。

您可以在實(shí)時(shí)采集和采集后分析中使用它。試用后,，效果立現(xiàn),。您可將其作為比較B掃描數(shù)據(jù)的一種方式，并滿懷信心地驗(yàn)證您的分析,。

4.毫不猶豫地確認(rèn)缺陷的深度

由于合并B掃描顯示了所有的聲束,，包括顯示材料最深處的信號(hào)指示，所以您可以用它來幫助確認(rèn)最深缺陷的位置,。您會(huì)注意到,，對(duì)于始于遠(yuǎn)端表面的裂紋的檢測(cè)有了特別的改善。

通過定位合并B掃描的掃描光標(biāo),，可以更容易地找到這種缺陷的最深部分,。然后，您可以像往常一樣,，使用S掃描來完成特征分析,。

5.分析和評(píng)估過去和現(xiàn)在的所有數(shù)據(jù)

額外好處：緩解B掃描篩選技術(shù)的學(xué)習(xí)曲線

如果您有使用和解讀B掃描的經(jīng)驗(yàn),，那么您在適應(yīng)合并B掃描時(shí)就不會(huì)有任何問題。由于合并B掃描顯示了所有的聲束,，包括產(chǎn)生最深層信號(hào)指示的聲束,，所以初學(xué)者學(xué)習(xí)B掃描篩選技術(shù)也會(huì)容易得多。