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原位掃描電鏡（SEM）的應用原理主要是利用電子成像來觀察樣品的表面形貌,。當一束極細的高能電子束在試樣上掃描時,，與試樣相互作用產(chǎn)生各種物理信息，如二次電子,、背散射電子,、特征X射線和連續(xù)譜X射線、透射電子等,。通過對這些信息的接受,、放大和顯示成像,，獲得測試試樣表面形貌的觀察。
SEM的分辨率高于光學顯微鏡的分辨率,，因為電子的波長遠小于光的波長,。此外，SEM還可以進行樣品表面的元素分析,，如C,、S、N等元素的分布情況,。
在具體應用中,，原位掃描電鏡可以用于材料科學、生物學,、醫(yī)學等領域的研究和質量控制,。例如，在材料科學領域,，SEM可以觀察金屬,、陶瓷、高分子等材料的表面形貌和微觀結構,；在生物學領域,，SEM可以觀察細胞和組織的表面形貌和結構；在醫(yī)學領域,，SEM可以用于疾病診斷和藥物研發(fā)等,。
原位掃描電鏡的應用原理是通過電子束與樣品相互作用產(chǎn)生各種物理信息，對這些信息進行接收,、放大和顯示成像,，從而獲得試樣表面形貌和結構的信息。
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