模擬環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備選購（附技術(shù)資料）指南

來源：泰仕特儀器（福建）有限公司 2011年11月17日 22:22

模擬環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備常用有：高低溫試驗(yàn)箱,，恒溫恒濕測(cè)試箱，紫外線老化試驗(yàn)箱,，耐光色牢度試驗(yàn)機(jī),，冷熱沖擊試驗(yàn)箱（高低溫沖擊試驗(yàn)箱）,，低溫彎折試驗(yàn)機(jī)，紫外線耐黃變?cè)囼?yàn)箱,，換氣型老化試驗(yàn)箱,，低溫耐寒試驗(yàn)機(jī)，鹽水噴霧試驗(yàn)箱等,。
附：可編程恒溫恒濕試驗(yàn)箱技術(shù)資料
恒溫恒濕試驗(yàn)箱可用于電子零件,、工業(yè)材料、電子電工產(chǎn)品,、玩具,、鞋材、紡織,、家具等進(jìn)行恒定濕熱,，復(fù)雜高低溫濕熱交變?cè)囼?yàn),。
實(shí)驗(yàn)室恒溫恒濕箱，試驗(yàn)前調(diào)濕樣品,，可提供相對(duì)濕度20%-98%±2,，溫度范圍0ºC至94±2ºC。
能保證可靠的運(yùn)行和數(shù)據(jù)的,。使溫濕度以連續(xù)信號(hào)輸出,，控制精度高，波動(dòng)小,，空調(diào)室內(nèi)溫濕度均勻 ,。箱體外表靜電粉末噴涂或不銹鋼任選
一、儀器功能：
可靠的性能,?？拐稹⒖钩?、抗磁性能*,；
操作更方便。溫濕度可自行設(shè)定,；
經(jīng)久耐用,。工作室選用不銹鋼。采用鏡面不銹鋼內(nèi)膽,，四角半圓弧易清潔,，箱內(nèi)擱板間距可調(diào)。
微電腦溫度濕度控制器,，控溫控濕可靠,。壓縮機(jī)等關(guān)鍵零部件均采用進(jìn)口產(chǎn)品。
設(shè)有獨(dú)立限溫報(bào)警系統(tǒng),，超過限制溫度即自動(dòng)中斷,，保證實(shí)驗(yàn)安全運(yùn)行，不發(fā)生意外,。

二,、主要參數(shù)：

產(chǎn)名名稱	型號(hào) 規(guī)格	工作室尺寸	溫度范圍	濕度范圍	溫度均勻度	溫度波動(dòng)度	溫度偏差	濕度偏差
恒溫恒濕試驗(yàn) 箱	TSC029-100	400×500×500	-20℃ -40℃ -70℃-100℃ （150℃）	35-98%RH	±2℃	±0.5℃	±2℃	+2 -3%
	TSC029-150	500×600×500
	TSC029-225	600×750×500
	TSC029-250	630×790×500
	TSC029-408	800×900×550
	TSC029-1000	1000×1000×1000

產(chǎn)名名稱	型號(hào) 規(guī)格	降溫速度	功率（KW）	電源電壓	備注
恒溫恒濕試驗(yàn) 箱	TSC029-100	0.7-1.5 ℃/min .	5	AC220V 或 AC380V 50HZ	1,、恒溫恒濕試驗(yàn)箱采用進(jìn)口溫控儀,。 2,、恒溫恒濕試驗(yàn)箱采用法國原裝泰康制冷壓機(jī)及配件,。 3,、恒溫恒濕試驗(yàn)箱加濕方式采用飽和氣體加濕方式,。 4,、恒溫恒濕試驗(yàn)箱內(nèi)膽為不銹鋼,、外殼為冷軋鋼板噴涂,。 5,、恒溫恒濕試驗(yàn)箱配備超溫超壓保護(hù)功能,。 6、恒溫恒濕試驗(yàn)箱加濕系統(tǒng)具有缺水,、斷相報(bào)警功能,。
	TSC029-150		6
	TSC029-225		8
	TSC029-250		12
	TSC029-408		15
	TSC029-1000		20

模擬環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備概括
環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗(yàn)方法,，隨著生產(chǎn)力的進(jìn)步,、國民經(jīng)濟(jì)的發(fā)展，環(huán)境試驗(yàn)方法的日臻豐富,，相應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備亦隨之日益增多,。為了使環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芸煽俊⒊掷m(xù)地得到實(shí)施,，這就需要有*,，性能合格的試驗(yàn)設(shè)備，而要達(dá)到這一要求,，就需有一個(gè)統(tǒng)一衡量試驗(yàn)設(shè)備尺度即環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn),，以及環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)。
我國的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)（以下簡(jiǎn)稱“設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)”）及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)（以下簡(jiǎn)稱“方法標(biāo)準(zhǔn)”）起草,、發(fā)布,、實(shí)施于二十世紀(jì)八十年代中期。

如要了解更詳細(xì)的技術(shù)資料,，可直接：/ ：胡

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