電弱點測試儀擊穿后的電壓采集能解決什么問題？

電弱點測試儀采用的光耦隔離方式,，但光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理,，對于電弧放電過程中的浪涌對控制系統(tǒng)的防護起不到任何作用,。

電弱點測試儀測量準(zhǔn)確,，復(fù)現(xiàn)性好,。測試過程采用電子技術(shù)全自動控制,，遇到電弱點時電壓切斷動作迅速,。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好,。本機具備多重保護功能,，充分考慮了操作人員及設(shè)備的性。如過壓,、過流,、接地保護,，試驗平臺門開啟保護。

根據(jù)薄膜的使用寬度進行電弱點的測試,，測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定,，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對測試結(jié)果的影響,。測試數(shù)據(jù)能真實地反映薄膜的質(zhì)量水平,。有效設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性,。

無論是采用磁通門或霍爾原理所設(shè)計的傳感器存在材料產(chǎn)生弱點后后瞬間輸出電壓或電流信號過大,，從而燒壞控制系統(tǒng)的采集部分。低濾波電流采集傳感器將高頻雜波信號進行相應(yīng)處理,。

采用雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)應(yīng)用于電弱點測試儀器,，電弱點測試儀器不僅具備過壓、過流保護系統(tǒng),，雙系統(tǒng)互鎖機制,，當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時，將瞬間切斷高壓,。技術(shù),，。

薄膜材料擊穿后,，瞬間放電速度約為光速的1／5～1／3,，國際通用的方法為壓降法進行采集擊穿電壓。即變壓器的初電壓瞬間下降一定比率來判別材料是否擊穿,。顯然記錄擊穿電壓值產(chǎn)生偏差,。而采用多循環(huán)采集技術(shù)對擊穿后的電壓采集將解決此難題。