牙齒缺損和缺失是常見的口腔疾病之一，其病因有很多,，如先天性缺失,、齲齒、外傷,、牙周病等等,，嚴重影響牙齒的健康和美觀。牙齒修復是口腔醫(yī)學科的一門重要學科,，隨著科技的進步,，牙齒修復技術(shù)不斷發(fā)展和完善，研究出越來越多的修復材料和方法,，為患者提供了更多的選擇,。

那么，優(yōu)可測的高精密測量技術(shù)能為牙齒修復技術(shù)的發(fā)展帶來什么幫助呢,？

牙齒修復的方法

牙齒缺損缺失患者需根據(jù)具體缺失情況來選擇牙齒修復技術(shù),，一般分為牙體缺損和牙列缺損缺失兩個大類。牙體缺損一般是指牙齒的形態(tài)結(jié)構(gòu)發(fā)生異常,，影響美觀和咬合問題,，修復方法一般是充填、嵌體,、貼面等,。牙列缺損缺失一般是指上頜、下頜牙大量或全部缺失,，嚴重影響美觀,、咀嚼、語言發(fā)音等問題,，

義齒即我們俗稱的“假牙”,，用于修復缺失的牙齒，一般有塑料,、瓷,、金屬等不同材質(zhì)的義齒。義齒大致可分為兩種：活動義齒和固定義齒,。義齒修復技術(shù)是常見的牙齒修復技術(shù)之一,，其主要分為活動義齒修復、固定義齒修復和種植牙修復,。

• 固定義齒修復：若牙齒缺損但尚未缺失的情況，可以在牙齒表面做固定義齒修復,，即常見的烤瓷牙；若牙齒已經(jīng)缺失,，可選擇安裝固定義齒來進行修復。

• 活動義齒修復：活動義齒修復的修復體是可以自由摘戴的,，一般是牙齒量比較少或者牙齒缺失量較多的患者會選擇活動義齒修復，以保障基礎(chǔ)的咀嚼進食功能和美觀,。

• 種植牙修復：種植牙主要由種植體和義齒兩大部分組成，種植體也稱為人工牙根,，它可以代替天然生長的牙根,，植入牙槽骨內(nèi),。種植體由鈦合金或其他生物相容性材料制成,，具有良好的生物相容性和骨結(jié)合能力。種植體具有較高的固位力,，能夠承受較大的咀嚼力，還可以模擬天然牙根的生物力學特性,，有助于維持牙槽骨的健康,。但種植手術(shù)費用相對較高,，對患者有一定的經(jīng)濟要求,。若患者的牙冠和牙根已經(jīng)脫落，即可在已脫落的牙床植入種植體,，然后在種植體上面做牙冠，進行種植牙修復,。

在牙齒修復領(lǐng)域，什么會受到表面粗糙度和微觀三維形貌影響,？

• 細菌粘附

義齒和種植體的表面粗糙度對變形鏈球菌、白色念珠菌,、粘性放線菌,、白色假絲酵母菌、等細菌和真菌的粘附力均有影響,，表面粗糙度越大,，細菌,、真菌的粘附力越強，這些細菌和真菌容易造成牙齒矯正者患上口炎等口腔疾病,。因此需要對義齒和種植體的表面粗糙度進行測量，把控表面粗糙度的大小,，減小細菌,、真菌的粘附力,。

• 牙結(jié)石

義齒的表面粗糙度是義齒牙結(jié)石形成的關(guān)鍵因素，義齒表面越粗糙,，牙菌斑的黏附力就越強。義齒牙結(jié)石形成的原因是牙菌斑塊的鈣化,，斑塊長期附著在義齒的同一個部位，就導致了義齒牙結(jié)石的形成,。因此需要對義齒進行表面粗糙度的測量把控，患者也需要定期清潔義齒,，減少牙結(jié)石的形成,。

• 色素沉著

義齒的色素沉著跟很多因素有關(guān),，例如飲食習慣,、義齒清潔劑種類,、義齒清潔習慣,、義齒本身材料特性、義齒的制造工藝等等,。相關(guān)研究表明,，大多數(shù)色素會沉積在義齒的牙菌斑上，義齒的表面粗糙度與色素沉著成正相關(guān),，義齒的表面粗糙度越大，色素沉著越多,。因此需對義齒的表面粗糙度進行測量把控,，以減少義齒使用過程中產(chǎn)生的色素沉著，增強義齒顏色穩(wěn)定性,。

• 摩擦磨損

義齒的表面粗糙度越大,，越容易刺激口腔內(nèi)部的黏膜,，黏膜的抵抗力降低，從而引起牙菌斑的附著,、沉積,，引發(fā)口腔疾病以及色素沉淀,，影響美觀。同時,，還會降低義齒的抗腐蝕性，影響義齒的使用壽命,。

• 軟組織沉積附著

相關(guān)研究表明,，種植體的表面粗糙度越小，上皮細胞及成纖維細胞的粘附力和增殖力越強,，更有利于軟組織的愈合,，因此需要測量種植體的表面粗糙度，改進種植體材料和工藝,。

• 骨細胞增殖、分化

相關(guān)研究表明,，種植體的表面粗糙度以及表面微形態(tài)會影響骨細胞和種植體的界面反應，從而影響骨細胞的增殖,、分化等,，因此測量、把控種植體表面粗糙度與微觀3D形貌是很有必要的,。

優(yōu)可測的牙齒修復材料檢測案例分享

近期，優(yōu)可測白光干涉儀AM-7000系列已在某QS世界大學前50的口腔醫(yī)學院成功裝機并啟用,，該學院主要是用其測量種植體的三維輪廓以及義齒的表面粗糙度，以供師生研究牙齒修復材料及技術(shù),。以下是部分檢測效果圖：

• 種植體輪廓測量效果：

• 義齒表面粗糙度測量效果：

優(yōu)可測白光干涉儀AM-7000系列精度達亞納米級。

RMS重復性可達0.002nm,，搭配大量程壓電陶瓷器件，掃描速度400μm/秒,。

3200Hz加以SST+GAT算法,，可瞬間完成500萬點云采集,。

白光干涉儀基于白光干涉原理,，通過光干涉相位計量，任意放大倍率下均可獲得小于1nm的檢測精度,。

涵蓋市場上通用的國際標準測量工具,，高效率輕松分析3D數(shù)據(jù),，從容應對各行各業(yè)的應用。