1.擊穿裝置

擊穿實驗裝置如圖2-4所示,，在室溫250C的條件下,，為了研究不同電場分布對聚丙烯薄膜擊穿特性的影響,，本文分別研究了不同電極結(jié)構(gòu)和不同電極間距對聚丙烯薄膜擊穿電壓,、擊穿電流以及擊穿圖像的影響。另外,，為了研究不同極化/去極化程度和不同組分的納米氧化鎂對聚丙烯薄膜擊穿特性的影響,，分別采用經(jīng)過極化/去極化Oh,2h,6h和lOh的聚丙烯試樣和添加質(zhì)量分數(shù)為0.5%,1%,1.5%和2%納米氧化鎂的聚丙烯試樣。針一棒電極和針一針電極作為實驗電極使用,，其中針電極的曲率半徑為0.5mm,，棒電極的直徑為10mm。電極間距分別設(shè)置為2mm,4mm和6mm,。實驗開始前,，將試樣裁剪為20mmX20mm的尺寸，并用夾片將其固定在針電極(高壓電極)附近,，棒電極(地電極)接采樣電阻后確?？煽拷拥亍嶒炦^程中,，控制高壓直流變壓器以500V/s的速率進行升壓,，直至試樣發(fā)生擊穿并記錄下此時的擊穿電壓值。為了減小擊穿實驗數(shù)據(jù)的分散性,，每組擊穿實驗進行20次,。擊穿電流的波形通過1.2SZ的采樣電阻和型號為EDS102C的示波器采集獲得。擊穿區(qū)域的圖像通過高分辨率工業(yè)相機拍照獲得,，后通過圖像處理技術(shù)進行定量的分析,。

2.擊穿電壓的處理：

由于擊穿電壓具有較大的分散性，而韋伯分布方法作為一種最著名的分布模型,，可以用來反映電介質(zhì)材料在某一時刻的故障或者擊穿的可能性,，所以韋伯分布法被廣泛地應(yīng)用在擊穿電壓的數(shù)據(jù)處理中。本文采用兩參數(shù)的韋伯分布方法,，以分析在不同極化/去極化程度,、不同電場分布和不同組分的納米氧化鎂下聚丙烯薄膜的擊穿電壓。其累計密度函數(shù)可用以下公式(3-1)表示,。

其中P(v)是介電擊穿的累積概率,，v是測量的擊穿電壓值,，a是尺度參數(shù)，即當介質(zhì)擊穿的累積概率為63.2%時對應(yīng)的電壓值,。刀為形狀參數(shù),，反映了實驗數(shù)據(jù)的分散性，當?shù)吨翟酱髸r,，表明實驗數(shù)據(jù)的分散性越小,，而當?shù)吨翟叫r，表明實驗數(shù)據(jù)的分散性越大,。本文利用Minitab軟件進行韋伯分布的統(tǒng)計分析,，其中單側(cè)置信區(qū)間為95%。