易被靜電損壞的電子器件稱為靜電敏感器件（Static Sensitive Device簡稱SSD）。由于科技時代的需要,，小體積,、多功能、快速度的集成電路已是目前電子工業(yè)的基本要求,。增厚氧化膜,，提高其耐壓性，顯然是行不通的,，因此在器件的集成度越來越高的趨勢下,，通常將器件氧化膜的膜厚做得越來越薄使其尺寸減少，器件的耐壓也隨之降低,。半導(dǎo)體器件,，特別是IC，根據(jù)其種類不同受靜電破壞的程度也不一樣,，弱至100V的靜電也會造成破壞,，具體數(shù)據(jù)見表l。

表l各種半導(dǎo)體器受靜電破壞的水平

元件的種類  遭受破壞的電壓范圍（V）  我廠所用元器件典型范例

VMOS器件               30~1800                     IRF640、SPP11N60S5,、BSN304

MOS場效應(yīng)器件    100~200                        TDA4605,、TDA16846

坤化鎵場效應(yīng)器件    100~300

EPROM                100                         M24C08、AT24C16

結(jié)型場效應(yīng)器件    140~7000                   K30A

表面濾波器               150~500                          A號板的CF6264

運算放大器               190~2500                V號板LM3580

CMOS器件               250~3000            S,、V號板AT27C010（L）

肖特基二極管    300~2500             高清上網(wǎng)板1N5817

薄膜電阻               300~3000

雙極型晶體管    380~7000              C1815,、A1015

可控硅               680~1000              V號板SFORIB42

肖特基TTL              1000~2500

   從上表可以看出，元器件對靜電的敏感度是不一樣的,，主要可分為以下三個級別（見表二）：                      

                      表二

       敏感類別         敏感電壓閾值（V）

         1類             0 - 1999      

         2類             2000 - 3999   

         3類             4000 - 15999  

    敏感電壓閾值大于16000V的產(chǎn)品,，屬于非敏感產(chǎn)品。

    靜電敏感元器件一般有防靜電標(biāo)志,，生產(chǎn)過程中碰到貼有這些標(biāo)志的元器件時要特別注意防靜電問題：

    半導(dǎo)體集成電路在設(shè)計上對防靜電失效采取了保護措施,，能為zui敏感的元器件提供zui低2000V的靜電放電設(shè)計保護，如增加保護電阻和嵌位二極管使之具有較強的抗靜電能力,。盡管靜電防護設(shè)計成效很大,，但因為受到結(jié)構(gòu)設(shè)計微小型化和產(chǎn)品基本構(gòu)造原理的局限，畢竟只能將敏感電壓閾值提高到一定程度,。另一方面,，該電壓閾值還與元器件的制造工藝有密切關(guān)系。所以在器件應(yīng)用時,，仍需采取各種有效措施來防止器件受到靜電損傷。

    靜電放電（ESD）失效可以是熱效應(yīng),，也可以是電效應(yīng),，這取決于半導(dǎo)體集成電路承受外界過電應(yīng)力的瞬間以及器件對地的絕緣程度。若器件的某一引出端對地短路,，則放電瞬間產(chǎn)生電流脈沖形成焦耳熱,，使器件局部金屬連線融化或芯片出現(xiàn)熱斑，以至誘發(fā)二次擊穿,，這就是熱效應(yīng),。若器件與地不接觸，沒有直接電流通路,，則靜電源不是通過器件到地直接放電,，而是將儲存電荷傳到器件，放電瞬間表現(xiàn)為過電壓導(dǎo)致介質(zhì)擊穿或表面擊穿,，這就屬于靜電效應(yīng),。

    靜電敏感元器件被靜電損傷后主要表現(xiàn)為兩種形式，即硬擊穿和軟擊穿,。電子元器件被靜電破壞后,，約有90%產(chǎn)生軟擊穿，而10%左右被*破壞。電視機中的靜電敏感元器件發(fā)生硬擊穿后,，往往會產(chǎn)生某種故障,，在生產(chǎn)過程中可以馬上檢驗出來，不留隱患,。而被軟擊穿的元器件,，通常在事故發(fā)生后6天~6個月后工作性能發(fā)生變化，這種變化可以導(dǎo)致間接性故障,，通常引發(fā)參數(shù)暫時性的漂移,、不穩(wěn)定或是帶負載能力變差。軟擊穿還會使器件耐壓降低,，在加上額定電壓的1/4時便會損壞,。電視機中的靜電敏感元器件發(fā)生軟擊穿后，不易產(chǎn)生故障,，在生產(chǎn)過程中不易檢驗出來,，存在隱患。