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日立冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的特點(diǎn)和用途介紹
冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種用于材料科學(xué),、化學(xué)領(lǐng)域的分析儀器,，超顯微,、形貌與成份分析相結(jié)合,。
日立冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡主要用于觀察材料表面的微觀形貌,、斷口及內(nèi)部組織,并對(duì)材料表面微區(qū)成分進(jìn)行定性和定量分析,。常用于陶瓷分子礦物,、纖維,、生物等無機(jī)或有機(jī)固體材料表面及斷面形貌觀察,、元素分析,金屬材料相分析、成分分析和夾雜物形態(tài)鑒定。該儀器可高分辨率觀察樣品表面超微結(jié)構(gòu),尤其對(duì)生物等不導(dǎo)電樣品,無需鍍膜即可實(shí)現(xiàn)高保真觀察,。
儀器具有高分辨率,、高反差、高靈敏,，配置能譜,、真空轉(zhuǎn)移、高真空離子濺射儀,。滿足廣大用戶對(duì)掃描電鏡的使用需求,，大景深圖像掃描、提高能譜采集效率,、實(shí)現(xiàn)有效檢測(cè)易與空氣發(fā)生作用的活潑樣品,。對(duì)材料進(jìn)行納米尺度的形貌觀察和成分分析。
主要特點(diǎn)有：
1.配備加速電壓減速功能,，優(yōu)良的低加速電壓成像能力,，1kV分辨率可達(dá)1.1nm；
2.日立E×B技術(shù),，無需噴鍍,，可直接觀測(cè)不導(dǎo)電樣品；
3.配備電子槍內(nèi)置加熱器,，物鏡光闌具有自清潔功能,；
4.SE與BSE任意比例搭配功能。
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