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關(guān)于X射線熒光鍍層測厚儀產(chǎn)品的應(yīng)用闡述
XRF指X射線熒光,，是一種識別樣品中元素類型和數(shù)量的技術(shù),。用于在整個電鍍行業(yè)范圍內(nèi)驗證鍍層的厚度和成分,。其基本的無損性質(zhì),，加上快速測量和結(jié)構(gòu)緊湊的臺式儀器等優(yōu)點,，能實現(xiàn)現(xiàn)場分析并立即得到結(jié)果,。
對于鍍層分析，XRF鍍層測厚儀將此信息轉(zhuǎn)換為厚度測量值,。在進行測量時,，X射線管產(chǎn)生的高能量x射線通過光圈聚集，并照射在樣品非常小的區(qū)域（該區(qū)域的大小為光斑尺寸）,。這些X射線與光斑內(nèi)元素的原子相互作用,。
XRF鍍層測厚儀相機幫助用戶準確定位測量區(qū)域,。某些情形下相機用于向自動操作模塊提供圖像信息，或包括放大圖像以準確定位需要測量的區(qū)域,。樣品可放置于固定或可移動的XRF鍍層測厚儀樣品臺上,。快速或慢速移動對于找到測試位置很重要,，隨后聚焦于準確的區(qū)域進行測量,。工作臺移動的精準度是帶來測試定位準確的一個因素，并進提升儀器的整體準確度,。
特點：
適應(yīng)性設(shè)計,，可對各種產(chǎn)品進行可靠分析
自動對焦和可選的程控臺提高了準確性和速度
直觀的 SmartLink 軟件使測量和導(dǎo)出數(shù)據(jù)變得容易
多準直器設(shè)計為每個樣品提供高準確性
選擇適合應(yīng)用的比例計數(shù)器或硅漂移檢測器 (SDD)
符合行業(yè)規(guī)范，例如 IPC-4552A,、ISO3497,、ASTM B568 和 DIN50987
光學(xué)分析單層和多層鍍層，包括合金層
簡單的樣品加載和快速分析可在幾秒鐘內(nèi)提供結(jié)果
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