霍爾效應測試儀可測試的材料有哪些

來源：北京錦正茂科技有限公司 2023年05月29日 16:37

霍爾效應測試儀,，是用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率,、電阻率,、霍爾系數(shù)等重要參數(shù),，而這些參數(shù)是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的，因此是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性必*的工具,。

該儀器為性能穩(wěn)定,、功能強大、性價比高的霍爾效應儀,在國內高校、研究所及半導體業(yè)界擁有廣泛的用戶和知*度,。儀器輕巧方便,，易于攜帶，主要用于量測電子材料之重要特性參數(shù),，如載流子濃度,、遷移率、電阻率,、霍爾系數(shù)等,，薄膜或固體材料均可。

可測試材料:

半導體材料：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和鐵氧體材料,，低阻抗材料：石墨烯,、金屬、透明氧化物,、弱磁性半導體材料,、TMR 材料，高阻抗材料：半絕緣的 GaAs, GaN, CdTe 等,。

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