冷場發(fā)射掃描電鏡(SEM)具有超高分辨率,,能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像,、反射電子象觀察及圖像處理。冷場發(fā)射掃描電鏡(SEM)利用二次電子成像原理,,在鍍膜或不鍍膜的基礎上,,低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細胞,、微生物以及生物大分子等,,獲得忠實原貌的立體感很強的樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息。 具有高性能x射線能譜儀,,能同時進行樣品表層的微區(qū)點線面元素的定性,、半定量及定量分析,具有形貌,、化學組分綜合分析能力,。
冷場發(fā)射掃描電鏡的主要優(yōu)勢就是分辨率高,尤其是低加速電壓下的分辨率更是遠遠超過鎢燈絲電鏡,。因此更適合于進行真實的表面分析,,特別是薄膜樣品。
冷場發(fā)射掃描電鏡(SEM)對樣品要求:
樣品形態(tài):送檢樣品必須為干燥固體,、塊狀,、片狀、纖維狀及粉末狀均可
樣品尺寸:樣品高度小于15mm,,直徑小于30mm
特殊要求:樣品應具有導電性,。若樣品不導電,,需要進行噴金、碳等導電膜的處理,;樣品中含有鐵(Fe),、鈷(Co)、鎳(Ni),,需要在委托測試單中重點標識,,進行特殊處理;樣品中不得含有水分,,多孔類或易潮解的樣品,,請?zhí)崆罢婵崭稍锾幚怼?/div>
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