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一、原理：
(1)通過測量被測光源可見光譜區(qū)光譜功率分布進而計算得到照度和色度參數(shù)的測量儀器,，此類儀器廣泛應用于各類現(xiàn)場照明測量領域,，也可用于光源產品的研發(fā)、生產線質量監(jiān)控等環(huán)節(jié),。
(2)人射光經(jīng)過分光系統(tǒng)使得不同波長的光平鋪成像到陣列式光電探測器上,，從而陣列探測器的像素與波長形成對應關系，通過信號讀取電路即可獲取到有效波段內的光譜強度信息,，陣列式光電探測器主要類型包括：電荷藕合元件(CCD),、互補性氧化金屬半導體器件(CMOS)、光電二極管陣列器件(PDA)等,。
(3)在分光系統(tǒng)中增加出射狹縫,，采用非陣列的光電探測器結合光譜掃描獲取到光譜功率分布信息。信號讀出電路將原始的光譜功率分布信息發(fā)送到微處理器后經(jīng)過光譜修正,、照度及色度計算等過程,，最終顯示照度、色度及光譜曲線等測量結果,。
二,、特點：入射光學系統(tǒng)可以包含余弦修正器、光纖,、積分球,、必要的鏡頭等部件。分光系統(tǒng)一般基于光柵器件進行分光,，光柵又包括反射光柵和透射光柵,。
三、應用領域：
波長范圍廣可測試各類光源,、SD卡保存多種格式Excle數(shù)據(jù)分析,；
適合不同場合現(xiàn)場測試、一鍵毫秒級的開關機使用更加便捷,；
工程技術人員,、工程銷售人員、貿易公司,、技術工程師及其它,。
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