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靜電是一種常見的,、自然發(fā)生的現(xiàn)象,，但在研究實驗室中,，包括在分析稱量過程中，它可以產(chǎn)生各種有害的影響,。靜電會對稱量過程本身或結(jié)果產(chǎn)生不利影響,，它們不僅會導(dǎo)致絕對重量不準(zhǔn)確，還會導(dǎo)致漂移和重復(fù)性差,，從而影響數(shù)據(jù)質(zhì)量,，因此需要耗費時間的材料選擇或處理程序來應(yīng)對這些問題,。
帶有集成靜電中和技術(shù)的分析天平可以解決靜電煩惱，并確保各種分析稱重應(yīng)用的準(zhǔn)確性,，是一種緊湊且有效的解決方案,。Cubis® II 分析天平和半微量天平集成了電荷中和技術(shù)，以實現(xiàn)準(zhǔn)確的稱量性能,。
靜電荷是如何形成的
電子逸出功是指一個電子離開金屬表面所需的能量,。兩個物體之間的摩擦?xí)l(fā)離子形成，因此電子逸出功較低的物質(zhì)很容易給電子逸出功較高的物質(zhì)提供電子,。在稱重過程中,，樣品內(nèi)部或樣品與容器或皮重容器之間存在摩擦，會產(chǎn)生靜電,。
靜電荷對分析稱重的影響
待稱重物質(zhì)與天平固定部位相互作用,，因該部位與稱重盤（包括通風(fēng)罩或底板）沒有導(dǎo)電連接，所以導(dǎo)致物質(zhì)表面電荷積聚,，進(jìn)而產(chǎn)生靜電力,。這些靜電力可能會產(chǎn)生虛假絕對重量（即與實際重量顯著偏離），并影響稱重精度,。當(dāng)電荷通過稱量盤消散時,，靜電力的變化會導(dǎo)致漂移，從而產(chǎn)生不一致的結(jié)果并降低重復(fù)性,。
靜電中和技術(shù)
賽多利斯 Cubis® II 采用了集成的電荷中和技術(shù),，可有效去除樣品和容器中的電荷，從而實現(xiàn)更精確的分析稱重,。
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