編輯 | 廣州斯派克儀器

冷熱沖擊試驗箱主要針對電工電子產(chǎn)品及其原始設(shè)備，用于考核產(chǎn)品對周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應(yīng)性,，是裝備設(shè)計定型的鑒定試驗和批產(chǎn)階段的例行試驗中重要的試驗,，在某些情況下也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗。

冷熱沖擊試驗箱多用于高溫,、低溫瞬時變化的條件下,，環(huán)境模擬試驗產(chǎn)品的物理特性及其它相關(guān)特性，經(jīng)檢驗后,，判定產(chǎn)品性能,，在產(chǎn)品設(shè)計中是否仍能滿足預(yù)定的要求,，改進、鑒定和出廠檢驗,。

冷熱沖擊試驗箱引起的失效現(xiàn)象如下所示：

為確保電子產(chǎn)品有高可靠性,，除進行相對固定的溫度、濕度試驗外,，隨著產(chǎn)品的耐濕性提高,，對溫度沖擊試驗的要求也不斷增加。

1.啟動馬達時周圍器件的溫度急劇上升,，關(guān)閉馬達后周圍器件會出現(xiàn)溫度驟然下降,；

2.溫度的過度升高導(dǎo)致焊錫回流現(xiàn)象出現(xiàn)；

3.在加工過程中,，元件可能受到嚴(yán)重?zé)釕?yīng)力的影響,，如：使用焊錫焊時;

4.由于產(chǎn)品精度要求，使元件不斷遭受較大的熱應(yīng)力;

5.在溫度較低的環(huán)境中連接到電源上,，導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生陡峭的溫度梯度,；在溫度較低的環(huán)境中切斷電源可能會導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生反溫度梯度。

冷熱沖擊不同于一般濕熱環(huán)境,，它是在常溫條件下,，通過冷熱沖擊的作用，很難發(fā)現(xiàn)潛在的故障,。影響冷,、溫沖擊試驗的多半因素有試驗溫度范圍、接觸時間,、循環(huán)次數(shù),、試樣重量、熱負荷等,。如有其它環(huán)境試驗箱疑問,，可咨詢相關(guān)人員。