X射線無損鍍層測厚儀：能量X熒光光譜側(cè)厚法(質(zhì)量膜厚)

測試原理：X射線無損鍍層測厚儀是通過X射線激發(fā)各種物質(zhì)（如Mo,、Ag、Mn）的特征X射線,，然后測量這被釋放出來的特征X射線的能量對樣品進行進行定性,，測量這被釋放出來的特征X射線的強度與標(biāo)準(zhǔn)片（或者對比樣）對比得出各物質(zhì)的厚度，這種強度和厚度的對應(yīng)關(guān)系在軟件后臺形成曲線,。而各種物質(zhì)的強度增加,，厚度值也增加，但不是直線關(guān)系,；通過標(biāo)樣和軟件及算法（算法有FP法和經(jīng)驗系數(shù)法）得到一個接近實際對應(yīng)關(guān)系的曲線.

X射線無損鍍層測厚儀器特點 

1,、鍍層分析快速、無損,，對樣品無需任何處理,。一般測試一個點只需要數(shù)10秒~3分鐘，分析高,。

    X射線無損鍍層測厚儀是光物理測量,，其對測試樣品不會產(chǎn)生任何的物理、化學(xué)變化,，因此,，其屬于無損測量。同時對測試的樣品不需要任何處理,，分析速度更加快捷,。

2、可測試超薄鍍層,，如：在測試鍍金產(chǎn)品時,，可測試0.01米的鍍層厚度，這是其他測厚設(shè)備無法達(dá)到的,。

     X熒光通過射線的方式來檢測鍍層的厚度,，因此，其對樣品的表面物質(zhì)測試為靈敏,，因此,，其非常適合測試超薄鍍層，也是目前超薄鍍層常用的測量方法。

3,、可測試多鍍層,，分析遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其他測量方法。

X射線具有一定的穿透能力,，因此,，在測試鍍層時，它可以穿透多層鍍層,，通過每層鍍層產(chǎn)生的特征X射線計算其厚度,，并可分析其鍍層的組成。

4,、可分析合金鍍層厚度和成分比,這是其他測厚設(shè)備不能做到的,。   

5、對于樣品可進行連續(xù)多點測量,，適合分析鍍層的厚度分布情況并可以對樣品的復(fù)雜面進行測量,。

    由于X熒光的無損分析方法，同時儀器高度的自動化控制技術(shù),，保證測試中可以進行連續(xù)多點測量,，不但提高測試效率，同時可以分析測試樣的厚度分布情況,。

6,、對分析的多鍍層每層之間的材料，要求有明顯的區(qū)別,，即,，每層樣品元素有明顯的差別。

     由于X熒光是通過特征X射線,，對被測樣品進行厚度分析的,，因此每層鍍層的材料應(yīng)有明顯的區(qū)別。

7,、不可以測試超厚樣品,，普通金屬鍍層總厚度一般不超過30微米,。根據(jù)各種元素的能量不同,，測量范圍都不相同. 

8、可以對極小樣品進行測試,，例如：螺絲,、電路板焊盤、接插件的插針等,?？梢詫射線照射在樣品的光斑調(diào)到很小的地步（可以達(dá)到微米級，因此，超小樣品的測試非常容易,。

9,、屬于對比分析儀器，測試不同的鍍層樣品需要不同的鍍層標(biāo)樣,，雖然有FP法的測試軟件,，但在精準(zhǔn)測試中，一定需要標(biāo)準(zhǔn)樣品進行校對,，因此,，企業(yè)應(yīng)用中采用標(biāo)樣校對的方法是常見的。

天瑞Thick800AX熒光鍍層測厚儀

儀器介紹

Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗,，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,，可全自動軟件操作，可多點測試,，由軟件控制儀器的測試點,，以及移動平臺。是一款功能強大的儀器,，配上專門為其開發(fā)的軟件,，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

應(yīng)用領(lǐng)域

黃金,，鉑,，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè),；銀行,，首飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè),。

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