x熒光光譜儀(xrf)由激發(fā)源(x射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成,。x射線管產(chǎn)生入射x射線(一次x射線),激發(fā)被測(cè)樣品,。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次x射線,,并且不同的元素所放射出的二次x射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性,。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次x射線的能量及數(shù)量。然后,,儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量,。
近年來(lái),x熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,,已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金,、地質(zhì)、有色,、建材,、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域,,特別是在rohs檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得最多也廣泛,。
大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析,可分析固體,、粉末,、熔珠、液體等樣品,,分析范圍為be到u,。并且具有分析速度快、測(cè)量范圍寬,、干擾小的特點(diǎn),。
優(yōu)缺點(diǎn):
優(yōu)點(diǎn):
a)分析速度高。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān),,但一般都很短,,2~5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。
b)x射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān),,而且跟固體,、粉末、液體及晶質(zhì),、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系,。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟x射線范圍內(nèi),,這種效應(yīng)更為顯著,。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定。
c)非破壞分析,。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變,,也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量,,結(jié)果重現(xiàn)性好,。
d)x射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,。
e)分析精密度高,。
f)制樣簡(jiǎn)單,固體,、粉末,、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
缺點(diǎn):
a)難于作絕對(duì)分析,,故定量分析需要標(biāo)樣,。
b)對(duì)輕元素的靈敏度要低一些,。
c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
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