探針臺廣泛應(yīng)用于復(fù)雜,、 高速器件的精密電氣測量,旨在確保質(zhì)量及可靠性,,并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本,。主要是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺,探針臺可吸附多種規(guī)格芯片,,并提供多個可調(diào)測試針以及探針座,,配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流,、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測,。
位移探針臺可以在測試準(zhǔn)備和測試過程中準(zhǔn)確移動探針位置,實(shí)現(xiàn)微米級別的電極接觸,;同時探針前端可調(diào)整角度和長度,,從而適應(yīng)樣品范圍更加廣泛。
探針臺可以固定晶圓或芯片,,并精確定位待測物,。手動探針臺的使用者將探針臂和探針安裝到操縱器中,并使用顯微鏡將探針*端放置到待測物上的正確位置,。一旦所有探針*端都被設(shè)置在正確的位置,,就可以對待測物進(jìn)行測試。
本公司提供的位移探針臺廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體,、生命科學(xué),、食品研究、藥物研發(fā),、地質(zhì)分析,、高分子聚合物,、航空航天、冶金,、液態(tài)晶體,、生物學(xué)等各種研究領(lǐng)域。
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