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基于X射線熒光能譜法,， 全反射X射線熒光(TXRF)采用毫弧度的臨界角,，由于采用此種近于切線方向的入射角，原級X射線光束幾乎全部被反射,，照射在樣品表面后,，可以很大程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發(fā)生，同時(shí)減小了載體的背景和噪聲,。
這種技術(shù)特點(diǎn),，使得全反射X射線熒光(TXRF)與其他傳統(tǒng)元素分析技術(shù)相比，有著諸多優(yōu)勢,，見下表：
意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產(chǎn)商,，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過半個(gè)多世紀(jì)的開發(fā)和研究,，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號滿足多個(gè)行業(yè)的分析需求,。
X射線衍射儀（XRD）可測試粉末、薄膜等樣品的晶體結(jié)構(gòu)等指標(biāo),，多應(yīng)用于分子結(jié)構(gòu)分析及金屬相變研究,；而全反射X熒光光譜儀（TXRF）的檢測限已達(dá)到皮克級別，其非破壞性分析特點(diǎn)應(yīng)用在痕量元素分析中,，涉及環(huán)境,、醫(yī)藥,、半導(dǎo)體、核工業(yè),、石油化工等行業(yè),；為迎合工業(yè)市場需求而設(shè)計(jì)制造的專用殘余應(yīng)力分析儀、殘余奧氏體分析儀,，近年來被廣泛應(yīng)用在材料檢測領(lǐng)域,，其操作的便捷性頗受行業(yè)青睞。
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