確定連續(xù)激光器損傷閾值的挑戰(zhàn)

使用環(huán)境對(duì)連續(xù)波（CW）激光損傷閾值的影響比對(duì)脈沖激光系統(tǒng)的影響更大,，因此CW激光系統(tǒng)用戶(hù)需要更加謹(jǐn)慎。CW激光器的損傷閾值通常規(guī)定為在給定波長(zhǎng)下測(cè)量的線性功率密度,。用戶(hù)不應(yīng)過(guò)于依賴(lài)光學(xué)元件的指/定CW損傷閾值,，而不首先考慮可能改變?cè)撝档脑S多參數(shù)：激光功率、光束直徑和環(huán)境測(cè)試條件等,。

定義與區(qū)別：

ISO標(biāo)準(zhǔn)將激光誘導(dǎo)損傷閾值（LIDT）定義為“光學(xué)器件推測(cè)的損傷概率為零的最高激光輻射量 ”,。脈沖激光和連續(xù)激光的工作方式不同，因此表現(xiàn)出不同的損傷機(jī)制,。脈沖LIDT是通過(guò)單次或多次發(fā)射測(cè)試來(lái)測(cè)試的,，而CW LIDT是通過(guò)將光學(xué)器件暴露于激光的恒定通量下一定時(shí)間來(lái)測(cè)試的。脈沖激光損傷,，通過(guò)納秒到飛秒范圍內(nèi)的曝光時(shí)間來(lái)測(cè)量,，通常由電場(chǎng)或機(jī)械應(yīng)力損傷引起。大于100皮秒的脈沖持續(xù)時(shí)間通常導(dǎo)致常規(guī)熔化,。CW激光損傷是由光學(xué)器件中的熱誘導(dǎo)應(yīng)力引起的加熱或機(jī)械故障引起的,。因此，暴露時(shí)間以微秒計(jì)的準(zhǔn)CW激光損傷是由電場(chǎng)和熱損傷的組合引起的。

指/定和測(cè)試CW LIDT的獨(dú)/特挑戰(zhàn)

使用CW激光器的損傷閾值測(cè)試提出了在脈沖激光損傷測(cè)試中不存在的挑戰(zhàn),。CW測(cè)試需要考慮的一些主要參數(shù)包括暴露時(shí)間,、光束直徑、結(jié)構(gòu)材料,、樣品上的缺陷和安裝選擇,。還應(yīng)考慮環(huán)境條件，特別是光學(xué)器件上方的任何氣流,。

曝光時(shí)間是所考慮的光學(xué)器件受到激光功率作用的時(shí)間間隔,。CW激光損傷測(cè)試的暴露時(shí)間大于1秒，但通常為每個(gè)測(cè)試位置5秒至1分鐘,，或直到樣品失效,。與暴露時(shí)間相關(guān)的另一個(gè)考慮因素是每次測(cè)試之間的休息時(shí)間。如果沒(méi)有給予樣品足夠的時(shí)間進(jìn)行熱“松弛”,，則下一次對(duì)樣品的曝光將比上一次更困難,。這在某種程度上與脈沖激光重復(fù)率有關(guān)，盡管在更長(zhǎng)的時(shí)間尺度上,。這在現(xiàn)實(shí)世界中提供了更多的不確定性,。用戶(hù)需要多長(zhǎng)時(shí)間才能恢復(fù)光學(xué)部？這段休息時(shí)間確實(shí)可以制造或破壞視覺(jué),。

光束將與之相互作用的缺陷數(shù)量將由選擇用于測(cè)試的光束直徑?jīng)Q定,。了解鏡片表面上或表面下的任何缺陷是很重要的。缺陷可以是表面下的損傷,，如裂紋或凹槽,，也可以是表面的缺陷，如涂層的缺陷或光學(xué)器件上的污染物,。涂層損壞通常是由于表面上的灰塵或劃痕容易吸收造成的,。表面上足夠的能量吸收會(huì)導(dǎo)致涂層分層。本質(zhì)上,，光束遇到的缺陷越多,，損傷閾值就越低。

圖1：由不同根本原因?qū)е碌募す庹T導(dǎo)損傷的各種形態(tài),。

基底材料的導(dǎo)熱性和吸收性決定了熱量在整個(gè)光學(xué)器件中分布的輪廓,。例如，硅和鍺透射光學(xué)器件通過(guò)紅外（IR）光但不通過(guò)可見(jiàn)光,，這導(dǎo)致在第一表面上的吸收,。然后，該第一表面吸收引起光學(xué)器件表面上的溫度升高,，這又引起相當(dāng)大的溫度梯度,。溫度梯度的大小可以決定樣品是否會(huì)有損傷,。因此，在CW激光測(cè)試期間,，經(jīng)常使用具有高反射涂層的光學(xué)器件,，因?yàn)樗鼈兡軌驅(qū)⒁恍崃繌墓鈱W(xué)器件反射出去。

樣品的安裝方式是另一個(gè)需要考慮的重要參數(shù),。有時(shí),，機(jī)械應(yīng)變可以由支架引入，這可以增加來(lái)自激光吸收的熱應(yīng)變的影響,。樣品是否用膠水固定也會(huì)影響熱量如何在整個(gè)光學(xué)器件中傳遞,。此外，安裝選擇引入了通過(guò)對(duì)流冷卻的可能性,，這是由于空氣流過(guò)樣品的結(jié)果,。熱沉的存在以及它如何有效地吸收來(lái)自光學(xué)器件的輻射可以顯著地增加樣品的損傷閾值。

縮放連續(xù)波損傷閾值：

斯林克等人的研究（2019）,，將CW激光誘導(dǎo)的損傷直接與由于吸收導(dǎo)致的光束中心的光學(xué)表面溫度升高相關(guān)聯(lián)。對(duì)于準(zhǔn)連續(xù)和連續(xù)激光系統(tǒng),，熱擴(kuò)散方程能夠預(yù)測(cè)和標(biāo)定激光損傷閾值,。在模擬高反射光學(xué)器件的損傷閾值時(shí)，考慮了兩種情況：泛光照明和光斑照明,。泛光照明被認(rèn)為是具有安裝在散熱器上的探測(cè)器的薄反射光學(xué)器件的大照明區(qū)域,。點(diǎn)照明是相對(duì)于獨(dú)立式反射光學(xué)器件的厚度的小照明區(qū)域。

如果忽略每個(gè)表面上的對(duì)流和輻射,，則梁中心表面上的溫升隨時(shí)間（t）的變化可由下式確定：

（1）

（1.1）

（1.2）

特征時(shí)間：

（2）

其中,，T0是樣品的初始溫度，α是照射波長(zhǎng)下的吸收率分?jǐn)?shù),，?是線性功率密度,，K是基底的熱導(dǎo)率，ρ是樣品密度,，R是樣品的半徑,，CP是比熱容.

損傷閾值告訴我們光學(xué)器件在一定量的激光輻射下失效的可能性。對(duì)于CW激光器,，該閾值可以被認(rèn)為是線性功率密度?DT,，其已經(jīng)被證明隨著曝光時(shí)間的增加而降低。當(dāng)忽略環(huán)境因素時(shí),，作為暴露時(shí)間的函數(shù)的線性功率密度的最小值可以通過(guò)設(shè)置T等于失效或臨界溫度TC來(lái)求解,，并求解?：

（3）

在這些條件下，破壞樣品所需的激光功率是恒定的線性功率密度,。此外,，ISO標(biāo)準(zhǔn)指示線性功率密度而不是輻照度的縮放。或者,，考慮到環(huán)境測(cè)試條件,，對(duì)于獨(dú)立式反射光學(xué)器件，表面上的溫度隨時(shí)間的升高（t）為：

（4）

（4.1）

特征時(shí)間：

（5）

其中T0是樣品的初始溫度,，Tair是樣品周?chē)諝獾臏囟?，L是樣品厚度，I是輻照度,，α是輻射波長(zhǎng)下的吸收率分?jǐn)?shù),，t是曝光時(shí)間。在上述兩個(gè)方程中,，Heff是有效對(duì)流系數(shù)——對(duì)流和輻射貢獻(xiàn)的總和,。考慮到樣品的兩個(gè)表面,，該系數(shù)加倍仍然記住環(huán)境條件,，在光學(xué)器件上有大量氣流和來(lái)自光學(xué)器件表面的輻射的情況下，可以通過(guò)下式計(jì)算損傷閾值輻照度：

（6）

該損傷閾值輻照度降低到最小值：

（7）

圖2：在兩種測(cè)試條件下,，輻照度隨暴露時(shí)間的增加而增加-最終顯示測(cè)試期間氣流對(duì)樣品的影響,。

圖3：暴露于準(zhǔn)CW和CW激光的樣品的損傷閾值隨著光束直徑和暴露時(shí)間的增加而降低。

結(jié)論

對(duì)于所考慮的所有光束直徑,，暴露于準(zhǔn)連續(xù)和連續(xù)激光的樣品的損傷閾值隨著光束直徑和暴露時(shí)間的增加而降低,。光束越大，就越有可能在光學(xué)器件上遇到多個(gè)缺陷,，從而降低損傷閾值,。熱量在樣品中擴(kuò)散的方式取決于所用基底的尺寸和熱容。在樣品上方有高速氣流的條件下,，光學(xué)器件表面的溫度大大降低,，因此，損傷閾值比未冷卻的光學(xué)器件高得多,。

確定CW激光系統(tǒng)的激光損傷閾值最困難的部分是在可再現(xiàn)的條件下測(cè)試樣品,。不同的應(yīng)用需要不同的激光功率、光束直徑和其他有用的參數(shù),，并且不是每個(gè)用戶(hù)都能夠重新創(chuàng)建測(cè)試光學(xué)器件的環(huán)境,。安裝、靜止時(shí)間,、環(huán)境條件和幾個(gè)其他參數(shù)可以改變光學(xué)器件的損傷閾值,。本文中提到的各種測(cè)試條件為確定CW LIDT帶來(lái)了挑戰(zhàn)。