顆粒測量的方法很多，這些方法或是基于單個顆粒的維度,，或是基于顆粒群體特征,。每種方法涵蓋不同的粒徑范圍，并基于不同的物理原理。一般來說,，這些方法可以分為直接觀測,、基于顆粒群的光學(xué)方法和基于介質(zhì)中顆粒運動的技術(shù)。常用的測量方法包括篩分法,、顯微圖象(動態(tài)／靜態(tài))法,、沉降法、電阻法,、激光散射法,、電子顯微鏡法、光阻法,、透氣法,、動態(tài)光散射法等。  
       (1)篩分法具有簡單,、直觀,、設(shè)備造價低等特點，常用于大于40微米的樣品,。其缺點是結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大,。  
       (2)顯微圖像法除具有簡單、直觀等特點外,，還可進行形貌分析,，適合分布窄(最大和最小粒徑的比值小于10:1)的樣品。其缺點是代表性差,，分析分布范圍寬的樣品比較麻煩,。  
       (3)沉降法(包括重力沉降和離心沉降)操作簡便，儀器可以連續(xù)運行,，價格低,，準確性和重復(fù)性較好，測試范圍較大,，缺點是測試時間較長,，操作較繁瑣。  
        (4)電阻法操作簡便,，可進行顆粒計數(shù),，速度快，準確性好,，缺點是不適合測量小于0.1微米的顆粒樣品,，對粒度分布寬的樣品需要頻繁更換小孔管。  
       (5)激光散射法操作簡便,，測量速度,，測量范圍寬,，重復(fù)性和準確性好，可進行在線測量和干法測量,，其缺點是結(jié)果受分布模型影響,。  
       (6)電子顯微鏡法適合超細顆粒測量，分辨率高,，可進行形貌和結(jié)構(gòu)分析,。其缺點是樣品少，代表性差,，儀器價格昂貴,。  
       (7)光阻法具有測量便捷快速，可測液體或氣體中的顆粒數(shù),，分辨力高,。其缺點是不適合測量小于1微米的顆粒樣品，進樣系統(tǒng)要求較高,，僅適合塵埃,、污染物或已稀釋好的藥物進行測量。  
        (8)透氣法儀器價格低,，不需對樣品進行分散，可測磁性粉體材料,。其缺點是只能得到平均粒度值,，不能測粒度分布，且不能測小于微米細粉,。  
       (9)動態(tài)光散射法適用于亞微米及納米級顆粒的粒度測量,，作為基光散射方法的一種，具有重復(fù)性和準確性好的特點,，但其缺點也是測量結(jié)果受分布模型影響,。  
       粒度測量技術(shù)基于多種原理，每種技術(shù)產(chǎn)生一個特征尺寸或等效球體的尺寸分布,，對于非球形顆粒,，測量結(jié)果則取決于測量原理。由于這種依賴性,，采用不同技術(shù)得到的非球形顆粒的粒度分布則可能是有差異的,，差異的大小很大程度上取決于顆粒的形狀。