一,、一鍵式閃測(cè)儀優(yōu)點(diǎn)如下：

1,、工件的擺放可以比較任意,，只要能夠在單一畫面內(nèi),，不需要像傳統(tǒng)影像儀一樣去建立坐標(biāo)原點(diǎn)了,，好處就是我們可以極大化的減少了一些工裝治具的定制了,。

2、多個(gè)同款產(chǎn)品擺放完畢后,，我們只需要選擇對(duì)應(yīng)產(chǎn)品的“程式”,，設(shè)備即實(shí)現(xiàn)了快速的全尺寸檢測(cè)，非常之迅速,，相較于傳統(tǒng)的影像設(shè)備,，這種全尺寸的獲取更快更穩(wěn)定,。

3、批量檢測(cè)的過(guò)程中,，因?yàn)橐曇拜^大,，產(chǎn)品較小，我們可以非常方便的篩選出不合格的產(chǎn)品,，判斷不合格產(chǎn)品的效率大大提高了,。

二、一鍵式閃測(cè)儀特點(diǎn)：

遠(yuǎn)心鏡頭（Telecentric）,，主要是為糾正傳統(tǒng)工業(yè)鏡頭視差而設(shè)計(jì),，它可以在一定的物距范圍內(nèi)，使得到的圖像放大倍率不會(huì)變化,，這對(duì)被測(cè)物不在同一物面上的情況是非常重要的應(yīng)用,。

也就是說(shuō)“在一定的景深范圍內(nèi)，可以無(wú)視差”,，這一特點(diǎn)非常重要,，傳統(tǒng)光學(xué)設(shè)備在針對(duì)產(chǎn)品階梯工件的孔徑檢測(cè)時(shí)，我們常規(guī)的測(cè)量步驟,，我們首先針對(duì)最矮的臺(tái)階進(jìn)行聚焦,，聚焦清楚之后，進(jìn)行孔徑測(cè)試,，緊接著,，我們移動(dòng)Z軸，聚焦第二臺(tái)階,，聚焦清楚之后,，進(jìn)行孔徑測(cè)試，第三臺(tái)階,，我們依舊按照這個(gè)步驟,，整個(gè)工件測(cè)試完成，常規(guī)的光學(xué)設(shè)備我們需要完成至少三次聚焦的動(dòng)作,。

但是遠(yuǎn)心光學(xué)鏡頭在這個(gè)時(shí)候則極大的發(fā)揮了其優(yōu)勢(shì),，在一定的景深范圍內(nèi)，原先的聚焦動(dòng)作我們不需要再做了,，我們?cè)谲浖缑嬷苯涌梢郧逦目吹秸麄€(gè)工件的俯視圖,，階差在傳統(tǒng)光學(xué)設(shè)備上造成的不同面的模糊影像，在遠(yuǎn)心光學(xué)鏡頭上沒有一絲影響,，這就是其優(yōu)勢(shì)在閃測(cè)上最大的貢獻(xiàn),。

三、一鍵式閃測(cè)儀應(yīng)用領(lǐng)域：密封圈,，磁性產(chǎn)品,，軸類零件,，精密零件、彈簧,、塑膠產(chǎn)品,、機(jī)械加工產(chǎn)品。