Fischer薄膜測厚儀DualScope MP0儀器內置探頭,,采用磁感應和渦流方法,,簡單,、快速,、無損地測量涂層厚度,。磁導率,、電導率和幾何形狀(曲率和厚度等。)的影響相對較小,。新的DUALSCOPE MP0采用了廣泛認可的Fischer探針技術,,這是一種小型儀器,可以在很大程度上滿足您的測量需求,。它測量精度高,,界面友好,經久耐用,。不復雜工件的現(xiàn)場測量尤其理想,。內置探頭,使用磁感應和渦流方法,,可以快速和無損測量涂層厚度,。DUALSCOPE MP0可自動識別鐵或鋁等基材,并選擇合適的測量方法,??梢燥@示重要的統(tǒng)計參數(shù)。由于其良好的重復性和統(tǒng)一的標準校準功能,,該儀器在同類產品中脫穎而出,。
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