菲希爾X射線熒光鍍層測厚儀它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,，同時還能檢測大規(guī)模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。XDL230有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經常校準儀器,。比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量,。

由于采用了Fischer的全基本參數法,，該儀器既能測量和分析涂層系統(tǒng)，又能測量和分析固體和液體樣品,，而不需要標準件,。Xd230特別適合客戶進行質量控制、進貨檢驗和生產過程監(jiān)控,。

FISCHERSCOPE X射線XDL 230是一款桌面測量儀器,，具有友好的用戶界面。手動操作X-Y工作臺和電機驅動Z軸系統(tǒng),。高分辨率彩色攝像機具有強大的放大功能,，可以準確定位測量位置。通過視頻窗口,，還可以實時觀察測量過程和進度,。測量盒底部的槽是專門為面積大、形狀扁平的樣品設計的,，使儀器可以測量比測量盒更長,、更寬的樣品。例如大型印刷電路板,。帶有放大倍率和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品放置,，并允許精確調整測量點。所有的儀器操作,、測量數據的計算,、測量數據報告的清晰顯示都可以通過WinFTM軟件在計算機上完成，功能強大,，界面友好,。XD-L涂層厚度測量和材料分析儀是一種受保護的儀器,，其型式許可符合德國“Deutsche rntgenverordnung-RV”法規(guī)。