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FT160配置部件,，可以提供精細(xì)結(jié)構(gòu)上的超薄鍍層的元素分析。毛細(xì)管聚焦光學(xué)鏡能聚焦直徑小于30μm的X射線束,，從而在樣品上集中更大強度且其可測量的部件尺寸小于傳統(tǒng)準(zhǔn)直器可測量的部件尺寸。高靈敏度,、高分辨率日立分析儀器硅漂移探測器（SDD）充分利用光學(xué)系統(tǒng)測量微電子和半導(dǎo)體上的納米級鍍層,。高精度樣品臺和具備數(shù)字變焦功能的高清攝像頭可快速定位樣件,，以提高樣品處理量。
FT160 XRF專門為微焦斑和超薄鍍層分析設(shè)計,，可準(zhǔn)確可靠地測量*小部件上的鍍層,，具有以下優(yōu)點：
（1）應(yīng)對超薄鍍層（納米級鍍層）測試挑戰(zhàn),，例如日益縮小的電子元件（尺寸小于50µm）中的鍍層。
（2）高通量測試,，這得益于內(nèi)部的多毛細(xì)管光學(xué)和高精度前沿XRF檢測器（SDD檢測器）,。
采用多毛細(xì)管光學(xué)技術(shù)測量小于50 µm的特征，對較小的特征可獲得更高的精度
（3）高精度測量,，F(xiàn)T160可提供小于30µm的束流直徑,，從而實現(xiàn)高精度的電鍍厚度測量和成分分析，這對于在整個半導(dǎo)體制造過程中分析焊料凸起,、金屬沉積和電鍍**重要,。
（4）符合IPC規(guī)范，滿足質(zhì)控分析需求
可用于印制板（PCB）制造以驗證鎳基鍍層。它使用檢測器技術(shù)和多毛細(xì)管光學(xué)技術(shù),，使質(zhì)量控制部門能夠可靠,、準(zhǔn)確地測量尺寸小于50µm的部件上的納米級特征鍍層厚度,。它還具有模式識別軟件和自動特征搜索器，可加快XRF分析速度,。
（5）FT160具有大樣品臺,，寬敞開的門和堅固的觀察窗,，可輕松裝載各種尺寸的零件并專注于測量點,。新設(shè)計的控制器軟件可實現(xiàn)增強和精確的測試,，并將結(jié)果方便地捕獲到數(shù)據(jù)庫中以供導(dǎo)出,。FT160可產(chǎn)生快速、準(zhǔn)確和可重復(fù)的結(jié)果,，提高了生產(chǎn)效率并降低了PCB、半導(dǎo)體和微型連接器上的超標(biāo)鍍層的成本,。
（6）16倍數(shù)字變焦高清相機,，更容易觀察半導(dǎo)體和PCB表面并易于導(dǎo)航,。
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