霍爾效應測試儀,，是用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率,、電阻率,、霍爾系數(shù)等重要參數(shù),，而這些參數(shù)是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的，因此是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性必*的工具,。該儀器為性能穩(wěn)定,、功能強大、性價比高的霍爾效應儀,在國內高校,、研究所及半導體業(yè)界擁有廣泛的用戶和知*度,。儀器輕巧方便，易于攜帶,，主要用于量測電子材料之重要特性參數(shù),，如載流子濃度、遷移率,、電阻率,、霍爾系數(shù)等，薄膜或固體材料均可,。本儀器系統(tǒng)由：電磁鐵,、高精度電源、高斯計,、高精度恒流源,、高精度電壓表,、霍爾探頭、電纜,、標準樣品,、樣品安裝架、系統(tǒng)軟件等構成,。您也可以在淘寶網(wǎng)首頁搜索“錦正茂科技”,，就能看到我們的企業(yè)店鋪，聯(lián)系更加方便快速,！

樣品測試：

設置控制電流,、磁場和霍爾片厚度，點擊“開始測試”按鈕,，軟件將完成一鍵測試過程,，直至計算出所有霍爾參數(shù)。每次測試完后,，可選擇保存該計算結果值,，然后點擊“清除顯示”按鈕，以進入下一次測試,。

若保持磁場大小不變,，改變控制電流的大小，可通過畫圖操作觀察Is 與 VH的關系,；若保持控制電流大小不變,，改變磁場的大小，可通過畫圖觀察 B 與 VH 的關系,。您也可以在淘寶網(wǎng)首頁搜索“錦正茂科技”,，就能看到我們的企業(yè)店鋪，聯(lián)系更加方便快速,！