Photo Research系列光譜光度輻射度計技術(shù)原理及介紹
Photo Research系列光譜光度輻射度計技術(shù)原理及介紹
簡介
美國Photo Researc公司成立于1941年,,現(xiàn)地點位于紐約州羅徹斯特的North Syracuse(北錫拉丘茲),,是一家專門致力于光度,、色度,、輻射度測量儀器研究,、生產(chǎn)的著名公司,;同時,,PR也是全qiu第yi家生產(chǎn)光譜式亮度計的廠家,,擁有13個自己獨立的光學(xué)校準(zhǔn)實驗室,,溯源NIST(美國國家計量局)標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn);
Aunion昊量光電作為Photo Research公司在國內(nèi)的一級代理商,,總部位于上海,,在西安、成都分別建立辦事處,,為國內(nèi)客戶提供快捷的本地校準(zhǔn)及維修服務(wù),。
一、理論介紹
PR-6系列和PR-7系列是真正意義上的的光譜輻射度計,;通過物鏡或者其他光學(xué)配件有效收集光學(xué)輻射信號(光信號),。光信號通過反射鏡上的孔徑光闌(洞)到達(dá)衍射光柵(參見圖2)。光柵把光按波長展開,,就像棱鏡把白色的光轉(zhuǎn)換成彩虹一樣,。一個寬帶光,例如太陽光是由很多不同波長的光組成的,。當(dāng)衍射光柵暴露在這種類型的光下,,它將從多角度反射光線產(chǎn)生了一個分散的光譜就像一道彩虹。類似地,,如果光柵接觸了一種單一光源,,比如一束激光,那么只有激光的特定波長的光會被反射,。
圖1 PR-788光譜測量范圍
對于PR-655,、PR-670和PR-788測量波長范圍是380納米(nm)(紫色)到780nm(深紅色)-即電磁波的可見光譜段 (參見圖1)。
衍射光譜到達(dá)ccd探測器,;PR-655探測器是128位的線性探測器,,PR-670探測器是256位的線性探測器,PR-788探測器是512位的線性探測器,;每個探測器單元均代表不同的顏色,。
測量時,,輻射光通過自適應(yīng)靈敏度算法在某個特定的時間內(nèi)被取樣測量,自動適配感應(yīng)器自動會根據(jù)光信號的強(qiáng)弱確定合適曝光時間,。光測量后,,探測器用同樣積分時間再次測量探測器的暗電流,然后從每個探測器單元的光測量結(jié)果中減去暗電流的光信號貢獻(xiàn)值,。
圖2 簡化方框圖
圖3 PR系列亮度計光路圖
儀器出廠時已通過相應(yīng)的校準(zhǔn)系數(shù)校準(zhǔn)光譜數(shù)據(jù),,校正系數(shù)包括波長精確度修正、光譜分布修正和光度修正,。波長校準(zhǔn)采用的是具有特征光譜的氦燈光源,,線光源提供了已知的光譜發(fā)射譜線通過光柵分光后投射到多探測器上再通過軟件顯示;用于波長校準(zhǔn)的氦譜線包括388.6nm,,447.1 nm,,471.3 nm,587.6 nm,,667.8 nm,,706.5 nm和728.13 nm;
接下來,,可用光譜校準(zhǔn)系數(shù)校準(zhǔn)這些數(shù)據(jù),;這些校準(zhǔn)系數(shù)確保被測目標(biāo)光譜能量分布(SPD)和由此計算出的數(shù)據(jù)比如CIE色度值經(jīng)過了正確的溯源。最后,,校準(zhǔn)系數(shù)(光度系數(shù))確保光度測試結(jié)果的準(zhǔn)確性,,如亮度或照度,。
重要參數(shù)計算公式
校正后的光譜數(shù)據(jù)用來計算光度和色度值包括亮度,,CIE 1931 x,y和1976 u’, v’的色坐標(biāo),、相關(guān)色溫(CCT)和主波長,。以下是一些基本的光度色度參數(shù)計算公式:
圖4 CIE 1931 三刺激值函數(shù)
CIE XYZ三刺激值和光度
X,Y,和Z是CIE的三刺激值。X表示紅色,,Y是綠色,,Z是藍(lán)色。
Y還可表示光度值-在使用標(biāo)準(zhǔn)的MS-75鏡頭時,,Y給出的是cd /m²-國際亮度單位,。footlamberts(英制亮度單位)可以用cd / m²值乘0.2919 得到fc 單位數(shù)值。
683是可將流明轉(zhuǎn)換成瓦的一個常數(shù),。對于亮場環(huán)境(白天),,555nm處683流明等同于1瓦的功率。
= 校正的光譜數(shù)據(jù),
是CIE三刺激值函數(shù)曲線,,
是光譜增量 ,,對于PR-655的增量是4nm,,PR-670的增量
是2nm,PR-788的增量是1nm,。
得出這三個三刺激值表達(dá)后,,有用的色度值比如CIE 1931 x,y和1976 u,v”可以通過下面的公式計算:
光譜式亮度計:速度相對緩慢但是精度高,適合LCD\OLED\Mini-LED\Micro-LED\硅基OLED研發(fā)等領(lǐng)域,;
濾片式亮度計:速度快,,但是精度差,適合背光模組,,產(chǎn)線上Flicker以及響應(yīng)時間測試,。
二、 Spectroradiometer 分光輻射度計
SpectraScan®分光輻射度計是測量輻射度的專業(yè)儀器. 具有專li的Pritchard觀景器,。它們易于使用,,高準(zhǔn)確性和可靠性,使這一系列產(chǎn)品guang泛應(yīng)用于光的量測,。
PR-655 :多功能,極gao性價比,配件豐富
PR-670 :自動多光闌和自動快門,微區(qū)測量
PR-680(L) :集光譜式與濾光片式一體,一機(jī)多用
PR-740/745: 制冷型線陣探測器,超低亮度與超短時間內(nèi)(最短200ms)測量,同類產(chǎn)品中最敏感,。PR-745光譜范圍擴(kuò)展到380-1080nm
R-788寬動態(tài)范圍的分光亮度計,是基于超靈敏PR74X系列光譜測試系統(tǒng)而研制的,,當(dāng)前應(yīng)用于R&D,、QC、QA以及工廠生產(chǎn),;
具有業(yè)界領(lǐng)xian的1000000:1 的動態(tài)范圍 ,,它提供了在不必增加外部衰減或改變幾何光學(xué)(例如測量場地尺寸)的情況下,即可從黑到全白測試設(shè)備輸出的解決方案,,這是在市場上可得到的最高速度,;
特別地,針對OLED屏幕測試 PR-788滿足暗態(tài)和超高靈敏度的需求,!
較寬的動態(tài)范圍:
測試顯示/背光不需要添加外部過濾或者改變光闌,;
可變的光譜帶寬:
光譜分辨率能夠滿足LCD甚至激光投影儀的顯示技術(shù);
極暗態(tài)下亮度測試:
0.000,034-6,850,000 cd/㎡
高速循環(huán)時間:
測試/校準(zhǔn)顯示產(chǎn)品的總時間急劇減少,;
USB,、RS232,藍(lán)牙接口:
易于集成到自動測試環(huán)境(ATE)
PR-730/740/735/745技術(shù)規(guī)格
PR-788 Specifications
光闌&對應(yīng)光斑尺寸
PR-788亮度范圍
三. 應(yīng)用
光譜式亮度計在面板顯示和照明行業(yè)有著廣泛的應(yīng)用,。重要可以測量亮度,,色度,亮度均勻性,,色度均勻性,,Gamma值以及某些光學(xué)材料的透過率和反射率等應(yīng)用。還可以做為標(biāo)準(zhǔn),來校正機(jī)差,,以及校正成像亮度計參數(shù),。不僅是科研,也是工廠中亮度,,色度測量解決方案的首xuan,。
四、Photo Research 亮度計系列產(chǎn)品概述:
PR-655 CCD探測器 128位線性TEC制冷 波段:380-780nm 帶寬:8nm 亮度范圍:0.68-102,774nits
PR-670 CCD探測器 256位線性TEC制冷 波段:380-780nm 帶寬:8nm 亮度范圍:0.034-8,565,000nits
PR-680 CCD/PMT雙路探測器 256位線性TEC制冷/光電倍增管 波段:380-780nm 亮度范圍:0.003-17,000,000nits
PR-788 CCD探測器 512位線性TEC制冷 波段:380-780nm 帶寬:5nm 亮度范圍:0.000034-6,850,000nits
PR-730/740 CCD探測器 512位線性TEC制冷 波段:380-780nm 帶寬:2,5或8nm 亮度范圍(PR-730):0.00034-19,000,000nits,;亮度范圍(PR-740):0.000034-680,000nits
PR-735/745 CCD探測器 512位線性TEC制冷 波段:380-1080nm 帶寬:14nm
關(guān)于昊量光電:
上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商,,產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器,、光學(xué)測量設(shè)備,、光學(xué)元件等,涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工,、光通訊,、生物醫(yī)療、科學(xué)研究,、國防,、量子光學(xué)、生物顯微,、物聯(lián)傳感,、激光制造等;可為客戶提供完整的設(shè)備安裝,,培訓(xùn),,硬件開發(fā),軟件開發(fā),,系統(tǒng)集成等服務(wù),。
相關(guān)產(chǎn)品
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