如何提高鍍層測厚儀測量精度

1,、提高工件表面光滑度

如果被測量的工件表面過于粗糙，那么就會對鍍層的測量造成一定影響,，會導(dǎo)致測量的度下降,。為了能有效提高鍍層測厚儀的測量精度,，首先要確保被檢測的工件表面擁有足夠的光滑程度。此外如果工件表面有其他的附著物也會對測量精度造成影響,，所以在測量前清理干凈工件,，讓鍍層測厚儀的探頭和覆蓋層能直接觀察，也能有效提高測量精度,。

2,、遠離強磁場環(huán)境

電氣設(shè)備在運行時都會釋放出一定的磁場，如果磁場達到一定的強度就會對鍍層測厚儀探測工作造成較大的干擾,，從而導(dǎo)致終的測量結(jié)果不準確,。所以讓測量儀器遠離強磁場環(huán)境十分重要，而要想提高鍍層測厚儀的測量度,，就要避免在擁有眾多電氣設(shè)備的環(huán)境中使用,。

3、正確使用探頭

探頭是影響鍍層測厚儀測量精度的一個關(guān)鍵性因素,，所以要想鍍層測厚儀測量的數(shù)據(jù)更加就要正確使用探頭,，包括使用大小合適的壓力、讓探頭和被測物體表面呈垂直狀態(tài)等等方面,。

鍍層測厚儀用磁性傳感器測量鋼,、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層,、鍍層，例如：漆,、粉末,、塑料、橡膠,、合成材料,、磷化層、鉻,、鋅,、鉛、鋁,、錫,、鎘、瓷,、琺瑯,、氧化層等。用渦流傳感器測量銅,、鋁,、鋅、錫等基體上的琺瑯,、橡膠,、油漆、塑料層等,。

測量方法

鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法,，光截法，電解法,，厚度差測量法,，稱重法，X射線熒光法,，β射線反向散射法,，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等,。這些方法中前五種是有損檢測,，測量手段繁瑣，速度慢,，多適用于抽樣檢驗,。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小,，X射線法可測極薄鍍層,、雙鍍層,、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量,。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用,。