機(jī)械沖擊試驗(yàn)臺(tái)是專為電子元器件,、儀器儀表及機(jī)械產(chǎn)品等提供模擬沖擊環(huán)境試驗(yàn)的設(shè)備,，對(duì)產(chǎn)品在運(yùn)輸,、使用過程中承受沖擊破壞程度依據(jù)，可完成半正弦波（基本波形）,、后峰鋸齒波,、梯形波；三種脈沖的沖擊試驗(yàn)相關(guān)要求,。沖擊測試臺(tái)主要用于小中型產(chǎn)品作沖擊試驗(yàn),，考核試品承受沖擊破壞的能力。常應(yīng)用于電子元器件,，電子線路板等環(huán)境試驗(yàn),。

      試驗(yàn)嚴(yán)厲度

      沖擊試驗(yàn)之嚴(yán)厲度及波形應(yīng)盡可能模擬實(shí)際運(yùn)輸或操作時(shí)所遭遇的環(huán)境效應(yīng)或滿足試件結(jié)構(gòu)整體性測試之需求。

      一般而言,，運(yùn)輸環(huán)境較操作環(huán)境更為嚴(yán)厲,，故試驗(yàn)位準(zhǔn)應(yīng)以前者為準(zhǔn)。然而,，試件在操作環(huán)境中需功能正常,，因此試件必須經(jīng)歷兩種沖擊狀況，即在運(yùn)輸環(huán)境后執(zhí)行參數(shù)量測,，操作環(huán)境中執(zhí)行功能測試,。

      當(dāng)選用嚴(yán)厲度時(shí)，需考慮試驗(yàn)位準(zhǔn)與實(shí)際環(huán)境間之安全裕度,。若實(shí)際操作或運(yùn)輸環(huán)境未知時(shí),，嚴(yán)厲度之選用可參考表。

      本標(biāo)準(zhǔn)在波形,、速度變化及側(cè)向運(yùn)動(dòng)均有容差要求,，因此具高重復(fù)性。但是對(duì)于某些試件之質(zhì)量或動(dòng)態(tài)響應(yīng)會(huì)影響沖擊機(jī)時(shí)則屬例外,，此時(shí)相關(guān)規(guī)范應(yīng)明定較大之試驗(yàn)容差或?qū)⑵浣Y(jié)果記錄于試驗(yàn)報(bào)告內(nèi),。