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鍍層厚度測量已成為加工工業(yè),、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)。對鍍層厚度有明確要求,。鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法,，電解法,，厚度差測量法，稱重法,，X射線熒光法,，β射線反向散射法，電容法,、磁性測量法及渦流測量法等等,。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣,，速度慢,，多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線法是無接觸無損測量,，測量范圍較小,，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層,、合金鍍層,。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用,。隨著技術(shù)的日益進步,，特別是近年來引入微機技術(shù)后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能,、多功能,、高精度、實用化的方向進了一步,。測量的分辨率已達0.1微米,，精度可達到1%，有了大幅度的提高,。它適用范圍廣,，量程寬、操作簡便且價廉,，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器,。
鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來,。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞,。同時,，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
鍍層測厚儀應(yīng)用
用磁性傳感器測量鋼,、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層,、鍍層，例如：漆,、粉末,、塑料、橡膠,、合成材料,、磷化層、鉻,、鋅,、鉛、鋁,、錫,、鎘、瓷,、琺瑯,、氧化層等。用渦流傳感器測量銅,、鋁,、鋅,、錫等基體上的琺瑯、橡膠,、油漆,、塑料層等。
測量方法
鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法,，光截法,，電解法，厚度差測量法,，稱重法,，X射線熒光法，β射線反向散射法,，電容法,、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,，測量手段繁瑣,，速度慢，多適用于抽樣檢驗,。
X射線和β射線法是無接觸無損測量,，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層,、雙鍍層,、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量,。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。
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