GHT-G-絕緣材料體積表面積電阻率測試儀

一.GHT-G-絕緣材料體積表面積電阻率測試儀概況：

(1)適用標準：GB/T 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》,；EN 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗方法和要求》,；GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（與標準IEC93-1980等效）；FZ/T 64013-2008 《靜電植絨毛絨》,；SJ/10694-2006《電子產(chǎn)品制造與應用系統(tǒng)防靜電檢測通用規(guī)范》6.1及ASTM D257《絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法》要求制作,。 GB/T 2439-2001《硫化橡膠或熱塑性橡膠 導電性能和耗散性能電阻率的測定》；GB/T 10581-2006 《絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗方法》 ,；GB/T 1692-2008 《硫化橡膠絕緣電阻率的測定》,；GB/T 12703.4-2010 《紡織品靜電性能的評定 第４部分：電阻率》

GB/T 10064-2006《測定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗方法》,。

二.適用范圍：

適用于測量粉末、粉體,、顆粒物,、電子元器件、介質(zhì)材料,、電線電纜,、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋,、防靜電塑料橡膠制品,、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測量,。

三.絕緣材料體積電阻率測試儀特點：

本儀器既可測量超高電阻,，又可測極微弱電流。采用了大規(guī)模集成電路以及新的技 術(shù),，使儀器體積小,、重量輕、準確度高,。以數(shù)字液晶顯示電阻并同時直接顯示流過被測電阻的電流,。電阻量程從1×104Ω ～1×1018Ω，電流測量范圍 為2 ×10-4A ～1 ×10-16A,。機內(nèi)測試電壓為DC0-1000v無極可調(diào)

四.絕緣材料體積電阻率測試儀主要參數(shù)：

1.電阻測量范圍：0.01×104Ω ～1×1018Ω,，

2.電流測量范圍: 2×10-4A～1×10-16A，

3.顯示方式：觸摸屏顯示 

4.內(nèi)置測試電壓：0-1000v 

5.基本準確度：準確度優(yōu)于國家標準（詳見GBT3048.5-2007標準要求）

6.使用環(huán)境: 溫度：0℃～40℃,，相對濕度<80%     

7.機內(nèi)測試電壓: 0-1000v 任意切換 

8.供電形式: AC 220V，50HZ,，功耗約10W

絕緣材料體積電阻率測試儀工作特點：

根據(jù)歐姆定律，被測電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I,。傳統(tǒng)的高阻計的工作原理是測量電壓V固定,，通過測量流過取樣電阻的電流I來得到電阻值,。從歐姆定律可以看出，由于電流I是與電阻成反比,，而不是成正比,，所以電阻的顯示值是非線性的，即電阻無窮大時,，電流為零,，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密,，分辨率很低,。整個刻度是非線性的。又由于測量不同的電阻時,，其電壓V也會有些變化,，所以普通的高阻計是精度差、分辨率低,。

 本臺電阻率測試儀是同時測出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I,，通過內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計算，然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值,，即便是電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I是同時變化,，其顯示的電阻值不象普通高阻計那樣因被測電壓V的變化或電流Ｉ的變化而變，所以,，即使測量電壓,、被測量電阻、電源電壓等發(fā)生變化對其結(jié)果影響不大,，其測量精度很高(),，從理論上講其誤差可以做到零，而實際誤差可以做到千分之幾或萬分之幾,。

售后服務：

山西冠恒精電儀器設備有限公司是集專業(yè)設計,、開發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的技術(shù)股份制企業(yè),，專注于新型材料試驗機的研制,、材料檢測技術(shù)的提高及材料試驗方法的創(chuàng)新，是國內(nèi)的材料試驗檢測儀器的生產(chǎn)企業(yè),。

我們承諾在接到客戶問題反饋3小時,，給出相應解決方法、如遇到需要上門服務時,，會根據(jù)客戶要求上門服務,。本儀器質(zhì)保1年，在質(zhì)保期內(nèi),，除人為因素原因,，不可抗拒的環(huán)境因素外,，維修免費。并且可根據(jù)客戶反饋信息進行儀器升級,，儀器升級后新老客戶可申請已舊換新業(yè)務,，具體電聯(lián)可詳談，本公司對上訴有*終解釋權(quán),。

影響電阻的因素一．環(huán)境因素的影響環(huán)境因素是指產(chǎn)生點陣畸變的外界條件,，主要指溫度和應力。(一)溫度的影響若認為導電電子是*自由的,，而原子的振動彼此無關(guān),，則電子的平均自由程與晶格振動的振幅平方的平均值成反比。由于與溫度成正比,，所以ρ∝T,。在理想完整的晶體中，電子的散射只取決于溫度所造成的點陣動畸變,，即金屬的電阻取決于離子的熱振動,。當溫度高于時，純金屬的電阻和溫度成正比,。（2—9）式中α為電阻溫度系數(shù),，過渡族金屬，特別是鐵磁金屬的α值較大,，約為10-2數(shù)量級,，其它金屬α值均為10-3數(shù)量級；表示溫度變化△T時ρ的變化,。若考慮振動原子與導電電子間的相互作用,，用量子力學方法可以獲得低溫下(低于)電阻的表達式，為（2—10）式中A為系數(shù),，為積分變數(shù),。低溫時，積分值趨于常數(shù)124.4,，因此,，。它類似于比熱容的德拜三次方定律,。式(2—11)也稱格留乃申定律,。的關(guān)系對于多數(shù)金屬都適用。對于過渡族金屬則(n為2.0一5.3),。一般金屬,，當溫度接近0 K時，仍有殘留電阻。但有些金屬,，例如Ti,、V、Nb,、Zr、Al等,，當溫度低于某臨界值時電阻下降為零,，它們被稱為超導金屬。金屬溶化時,，由于點陣規(guī)律性遭到破壞及原子間結(jié)合力的變化,，熔點(Tm)處液態(tài)金屬的電阻比固態(tài)約大一倍。除Ga,、Hg,、Sb、Bi外,，大多數(shù)金屬熔化時電阻的躍變可通過式(2—11)計算( )Tm=exp(KtLmTm) （2—11）式中Lm為熔化潛熱(kJ／mol),；ρL和ρS分別為Tm處液態(tài)和固態(tài)的電阻率；K1為系數(shù),，其值為80kJ-1·mol·K-1,。(二)應力的影響彈性范圍內(nèi)的單向拉應力，能使原子間的距離增大,，點陣的動畸變增大,，由此導致金屬的電阻增大。電阻率與應力之間有如下的關(guān)系（2—12）式中ρT為受拉應力作用下的電阻率,；ρ0為未加負荷時的電阻率,；αT為應力系數(shù)；σ為拉應力,。鐵在室溫下的應力系數(shù)αT約為2.11—2.13×10-11Pa-1,。壓力對電阻的影響恰好與拉應力相反，由于壓力能使原子間距變小,，點陣動畸變減小,，大多數(shù)金屬在三向壓力（低于1200MPa)的作用下，電阻率都下降,，并且有如下的關(guān)系（2—13）式中為三向拉力下的電阻率,；為真空下的電阻率；p為壓力,；φ為壓力系數(shù),，是負值。二、組織結(jié)構(gòu)的影響組織結(jié)構(gòu)是影響電阻的內(nèi)部因素,，金屬及合金的結(jié)構(gòu)取決于塑性形變及熱處理工藝,。(一)塑性形變的影響形變使金屬的電阻增大。鋁,、鋼,、鐵、銀和其它一些金屬在具有顯著的加工硬化時,，它們的電阻率增加約2—6％,，只有鎢是例外，大量擠壓之后,，電阻可增大百分之幾十,。金屬經(jīng)過塑性形變使電阻增大的原因是由于形變使點陣產(chǎn)生缺陷和畸變，導致電子波的散射增強,；此外,，冷加工也可能引起原子間的結(jié)合性質(zhì)發(fā)生變化，從而對電阻產(chǎn)生影響,。如果用ρ0表示未經(jīng)加工硬化金屬的電阻率,，△ρ表示加工硬化產(chǎn)生的附加電阻率，金屬加工硬化后的電阻率ρ＝ρ0+△ρ,。從電阻和溫度的關(guān)系可知,，當溫度降低時ρ0減小，在0k時趨近于零,。附加電阻△ρ只受加工程度的影響,，與溫度無關(guān)，即便是溫度為0k時它仍然存在,，故稱為殘留電阻,。△ρ／ρ隨溫度降低而增大,，所以用低溫測量電阻的方法研究加工硬化是很合適的,。形變金屬的電阻增大與形變量及形變溫度有關(guān)。鉭絲經(jīng)扭轉(zhuǎn)形變,，△ρ／ρ0和扭轉(zhuǎn)形變量的關(guān)系如圖2—5所示,。于77K和298K測量的結(jié)果表明，電阻隨形變量增大而增大,；并且形變溫度愈低,，電阻增加得就愈快。從圖2—5可以看到電阻的變化反映了形變強化的一般規(guī)律,。圖2-5 鉭絲電阻的相對變化和扭轉(zhuǎn)形變的關(guān)系(二)熱處理的影響形變和應力都能破壞周期場的規(guī)整性,，使電阻增大,，若對加工硬化的金屬進行退火，使它產(chǎn)生回復和再結(jié)晶,，電阻就必然下降,。例如，純鐵經(jīng)過加工硬化之后,，進行100℃退火處理,，電阻便有明顯地降低。如要進行520℃退火,，電阻便恢復到加工前的水平,。但當退火溫度高于再結(jié)晶溫度時，由于再結(jié)晶生成的新晶粒很細小,，所以晶界較多，晶界是一種面缺陷,，因此電阻反而有所增高,。